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红外热成像显微镜可探测热点和缺陷电子元件和电路板故障诊断,测量结温,甄别芯片键合缺陷

孚光精仪（香港）有限公司 2013-10-22
文档简介红外热成像显微镜可探测热点和缺陷电子元件和电路板故障诊断,测量结温,甄别芯片键合缺陷
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