使用离子束制备SEM样品：徕卡EM TIC 3X三离子束研磨仪

文档简介"如今，离子束蚀刻技术是应用Z广泛的电子显微镜样品制备方法。在蚀刻过程中，高能氩离子束轰击样品，并根据其应用领域调整离子束能量和切割角度。
在制备扫描电子显微镜样品时，离子束蚀刻可改善或修改样品表面质量。
首先，离子束刻蚀能够清洁、抛光或增加表面的衬度。经离子束处理的样品表面足以适用于各种灵敏的表面性能测试方法（如EBSD）。
另外，离子束刻蚀也可以通过斜面切割制备样品的横截面。
徕卡EM TIC 3X是一款离子束研磨仪，用于制备扫描电子显微镜样品。可以制备样品的横截面以及大面积表面。
样品的横截面还可以使用低能离子束再次处理。该处理过程既可以清洗横截面，也能增强其衬度。
另外，EM TIC 3X可以通过离子束抛光工艺改进样品的机械抛光表面。样品表面的Z大离子束制备直径为
25mm，Z大样品直径为38mm。
离子束抛光可以清洗、抛光样品表面，并增强其衬度，可以在一台仪器中完成所有类型的扫描电子显微镜样品制备流程。
该仪器配备了一个模块化的系统，可配置5种适用于不同应用的样品台：标准样品台，冷冻样品台，多样品台，旋转样品台和预抽真空系统，用以转移冷冻样品或易氧化的样品。EM TIC 3X