采用有色滤光片实现激光波长测量

文档简介ILX Lightwave 研发了一种波长测量的技术，该技术基于有色滤光片的波长和透射率的特征关系（见Figure 2）。某些波长测量应用需要皮米量级的精度和分辨率，这时可以通过复杂的干涉仪技术实现。而ILX Lightwave采用更为简单的技术实现1nm测量精度和0.1nm分辨率的波长测量，该波长测量技术可以很好地满足诸多精度要求一般的测试。