NexION 5000 ICP-MS在血液分析中的应用

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• NexION 5000 ICP-MS在血液分析中的应用

  NexION 5000 ICP-MS在血液分析中的应用 [详细]

  2020-07-17 14:08

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• NexION 5000 ICP-MS在血液分析中的应用

  NexION 5000 ICP-MS在血液分析中的应用 [详细]

  2020-07-17 14:08

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• NexION 5000 ICP-MS在超纯水分析中的应用

  NexION 5000 ICP-MS在超纯水分析中的应用[详细]

  2024-09-13 05:07

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• NexION 5000 ICP-MS新一代创新接口设计的优势

  NexION 5000 ICP-MS在超纯水分析中的应用[详细]

  2024-09-13 23:05

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• 采用NexION 2000 ICP-MS分析尿液中的微量元素

  在检测尿液中的微量金属元素时主要需要攻克两大难关：基体产生的多原子离子干扰的存在和用于评估污染物接触的某些元素的含量极低，包括砷（As）、镉（Cd）、汞（Hg）等。PerkinElmerNexION2000ICP质谱仪（ICP-MS）的通用池系统具有标准（Standard）、碰撞（KED）和反应（DRC）三种模式，并具有三个气路，可选择的碰撞/反应气体种类也很丰富，所以NexION2000能够Z有效地排除干扰，准确地测定Zdi的浓度水平。[详细]

  2018-08-17 10:00

  产品样册

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• NexION 300S ICP-MS 对光刻胶中的Si的分析

  使用ICP、ICP-MS分析时存在光学干扰，而仪器的结构又决定了Si的检出限比其他元素更高，所以为了分析低浓度的Si，必须去除光学干扰或更换仪器进样系统 ( 雾室、雾化器、ZX管、炬管 )。 本实验的目的是利用NexION 的 DRC模式确定分析Si的**条件。 [详细]

  2024-09-14 16:18

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• Elan DRC-e ICP-MS在食品分析中的应用

  Elan DRC-e ICP-MS在食品分析中的应用[详细]

  2008-08-07 00:00

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• ICP－MS 法在茶叶非金属元素分析中的应用

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  2024-09-28 17:19

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• NexION 300S ICP-MS测定硅晶片中的杂质

  NexION 300S ICP-MS测定硅晶片中的杂质[详细]

  2013-07-17 00:00

  操作手册

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• 珀金埃尔默 NexION 5000 多重四极杆 ICP-MS

  珀金埃尔默 NexION 5000 多重四极杆 ICP-MS[详细]

  2024-09-11 11:51

  产品样册

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• NexION ICP-MS 分析啤酒花中的有毒和营养元素

  由于啤酒花和具有类似的化学和物理特性，所以啤酒花是普遍接受的替代品。本文讨论了采用ICP-MS 分析作为替代品的啤酒花中的有毒元素和营养元素。 结果表明，NexION ICP-MS 结合Titan MPS 微波系统能够有效地分析可作为替代品得啤酒花中的营养元素和有毒元素。分析采用碰撞和标准模式，完成每个样品分析仅需100 秒。通过分析各种NIST™ 标准植物 材料验证了所应用方法的准确度。[详细]

  2024-09-16 00:01

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• ICP-MS 用于NexION ICP-MS的全基体进样系统 (AMS)

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  2020-07-17 14:16

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• ICP-MS 用于NexION ICP-MS的全基体进样系统 (AMS)

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  2024-09-10 22:38

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• 使用NexION 5000 ICP-MS直接测定高纯氧化钕中的稀土杂质 Application Note (706124_CHN _01)

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  2024-09-12 16:02

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  本文介绍了NexION2000ICP-MS应用于U.S.EPA200.8方法时，在标准模式下分析天然水和饮用水样品的实例。通过多种有证标准物质和加标回收率的分析验证了方法的准确性，并通过至少九小时的分析验证了方法的稳定性。方法的检测下限完全可以满足200.8的要求。此外，智能电子稀释功能可以选择性地对某些待测元素的信号进行衰减，实现高低含量元素同步测定，可有效替代ICP-OES或火焰AA分析方法。NexION2000为U.S.EPA200.8方法提供了一套全面的解决方案。[详细]

  2018-08-17 10:00

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• 珀金埃尔默 NexION 5000多重四极杆ICP-MS质谱仪

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  2024-09-11 11:51

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  NexION 300S ICP-MS测定半导体级硝酸中的杂质[详细]

  2024-09-12 18:28

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• NexION 300S ICP-MS测定半导体级硫酸中的杂质

  NexION 300S ICP-MS测定半导体级硫酸中的杂质[详细]

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