USP <232>/<233> 和 ICH Q3D 元素杂质分析： 安捷伦 ICP-OES 解决方案

文档简介USP 通则章节 <233>（元素杂质 — 流程）建议使用 ICP-OES 或 ICP-MS 测定药品及成分中元素杂质的含 量。安捷伦 ICP-OES 仪器可耐受所有常见的酸和有机溶 剂基质以及其他复杂基质，如固体样品溶解后制得 的基质。这些样品无需高倍数稀释即可直接进行测 定。安捷伦 ICP-OES 系统还具有稳定的垂直等离子体，可确保对所有分析物均获得优异的稳定性与高灵敏度。