产品资料

Crystalaser小型半导体连续激光器

文档简介Direct系列
波长375 nm-1550 nm，功率高达2 W
低噪音、单纵模
优异的光束指向稳定性与功率稳定性
超紧凑结构设计，易于OEM封装
高达200 MHz的高速调制
自由空间出射、光纤耦合出射
应用：全息、流式细胞学、荧光光谱、共聚焦显微分析、拉曼光谱

您可能感兴趣的产品资料

t-Pulse Duo飞秒激光器_半导体泵浦飞秒振荡器_Amplitude

t-Pulse Duo飞秒激光器_半导体泵浦飞秒振荡器_Amplitude Systems_超快激光器
t-Pulse飞秒激光器_半导体泵浦飞秒振荡器_Amplitude Syst

t-Pulse飞秒激光器_半导体泵浦飞秒振荡器_Amplitude Systems_超快激光器
s-Pluse飞秒激光器_半导体泵浦飞秒放大器_Amplitude Syst

s-Pluse飞秒激光器_半导体泵浦飞秒放大器_Amplitude Systems_飞秒放大器
OMT-3RT金相显微镜提供优越的图像质量和稳固可靠的机械结构；操作简便，附

OMT-3RT金相显微镜提供优越的图像质量和稳固可靠的机械结构；操作简便，附件齐全，广泛应用于教学科研金相分
动态反应池-ICP-MS分析半导体级盐酸中杂质

动态反应池-ICP-MS分析半导体级盐酸中杂质
使用动态反应池型的ICPMS分析半导体级TMAH的应用报告

使用动态反应池型的ICPMS分析半导体级TMAH的应用报告
NexION300S ICP-MS测定半导体行业中使用有机溶剂的杂质

NexION300S ICP-MS测定半导体行业中使用有机溶剂的杂质
NexION 300S ICP-MS测定半导体级TMAH中的杂质

NexION 300S ICP-MS测定半导体级TMAH中的杂质
NexION 300S ICP-MS测定半导体级硫酸中的杂质

NexION 300S ICP-MS测定半导体级硫酸中的杂质
NexION 300S ICP-MS测定半导体级硝酸中的杂质

NexION 300S ICP-MS测定半导体级硝酸中的杂质