微米膜厚测量仪 C11011-01W产品样册

文档简介 C11011-01W型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理，测量速度达60Hz，适用于产品线上在线测量。此外，与Mapping工作台联用可以测量指定样品的厚度分布。C11011-01W应用广泛，比如用于产品制造过程监控或质量控制。C11011-01W测量玻璃膜厚范围分别为25 μm 到 2900 μm 和10 μm 到1200 μm。