产品资料
登录
首页
找仪器
社区
百科
新品
供应商
品牌
应用
资料
仪企号
展会
标准
求购
招中标
光学NanoGauge C10178-02产品样册
滨松光子学商贸(中国)有限公司
2020-03-10
文档简介
C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。滨松的产品使用多通道光谱仪PMA作为检测器,测量各种光学滤光片和涂膜厚度的同时还可以测量量子产率,反射率,透射/吸收率等参数。 C10178-02支持UV(200 nm至950 nm)。
相关仪器
光学NanoGauge C10178-02
您可能感兴趣的产品资料
轻便精密
光学
平台
产品
样册
轻便精密光学平台产品样册
高性能
光学
快门
产品
样册
高性能光学快门产品样册
赛凡7TP2 洁面 系列
光学
平板
产品
样册
赛凡7TP2 洁面 系列光学平板产品样册
赛凡7TBD柜式
光学
平台
产品
样册
赛凡7TBD柜式光学平台产品样册
赛凡7TBV 精密隔振 系列
光学
平台
产品
样册
赛凡7TBV 精密隔振 系列光学平台产品样册
赛凡7TBP 精密 系列
光学
平台
产品
样册
赛凡7TBP 精密 系列光学平台产品样册
赛凡7TP1 传统 系列
光学
平板
产品
样册
赛凡7TP1 传统 系列光学平板产品样册
赛凡7TB2 洁面 系列
光学
平台
产品
样册
赛凡7TB2 洁面 系列光学平台产品样册
赛凡7TB1 传统 系列
光学
平台
产品
样册
赛凡7TB1 传统 系列光学平台产品样册
Night N自适应
光学
相关
产品
产品
样册
Night N自适应光学相关产品产品样册
选购仪器 上yiqi.com
仪器网络推广
品牌网上传播
长按识别二维码查看信息详情