微米膜厚测量仪 C11011-21产品样册

文档简介 C11011-21型光学微米膜厚测量仪利用激光干涉法原理，测量速度达60Hz，适用于产品在线测量。此外，选配的作图系统可以用于测量指定样品的厚度分布。C11011-01W应用广泛，比如用于产品制造过程监控或质量控制。C11011-21可测玻璃膜厚范围分别为25 μm 到2200 μm 和10 μm 到 900 μm，可测层数Z多为10层。