GJB360.7电子及电气元件温度冲击试验方法

文档简介GJB360.7电子及电气元件试验方法温度冲击试验目的：确定元件保留于高低温极值下，以及高低温极值交替冲击下所具有的抗御能力。应用：试验样品的失效数应以Z后检测为依据。对试验设备的要求高温箱，低温箱应能提供第2章表1所规定的极值温度条件。高温箱，低温相应符合GJB360.1-87{电子及电气元件试验方法总则}