粉体接触角测量仪的技术参数
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德国LAUDA Scientific公司生产的LSA100POM粉体接触角测量仪是LSA100光学接触角测量仪配备粉末/多孔介质模块(POM)延伸而来,是一款专门用于测量粉末及多孔材料润湿性的光学仪器。此外LSA100POM可以选配多种测量模块完成滞留力测量、单一纤维接触角测量、俯视法接触角测量、界面扩张流变测量、全自动临界胶束浓度(CMC)等特殊任务,LSA100POM粉体接触角测量仪将为材料科学、界面化学、电子制造、纺织纤维等相关实验室提供更加专业的解决方案。
LSA100POM的技术参数如下:
Ø 接触角测量范围:0---180°
Washburm 法接触角测量范围:0---90°
接触角测量精度:±0.1°
接触角测量分辨率:0.01°
Ø 粉末样品测量频率:15Hz
Ø 吸收液体积:无限制
分辨率:0.1ul
Ø 标准吸收池类型:垂直式 、可选水平渗透池
尺寸:长40mm,直径10mm
Ø 表面/界面张力测量范围:1×10-2 --- 2×103mN/m
分辨率:0.01mN/m
Ø 视频图像系统(系统可升级)
镜头:6.5倍变焦光学镜头
分辨率:1280×960 pixel
相机速度:54fps @1280×960 pixel
视野范围:1.1×0.8---9.1×6.9(mm×mm)
备注:视频系统可选配6.5/8.6/12.9/45倍变焦光学镜头和高速相机,适合于复杂功能的应用。
Ø 视频调焦台
调节方式:X轴方向精密导轨调节,调焦范围:100 mm
Ø 样品台
调节方式:X/Y/Z三轴精密导轨调节 移动行程:100/100/50 mm
尺寸:100x100 mm
载重(max):12kg
Ø 加液单元调节台
调节方式:X/Y/Z三轴精密导轨调节 移动行程:85/76/60 mm
Ø 自动倾斜台
角度范围:0~360°
速度范围:0.05°--- 7°/s
Ø 样品尺寸(max):∞×290x76 mm(L×W×H)
Ø 光源:高亮度高均匀LED冷光源,亮度可手动/软件调节
Ø 电源:50/60Hz ; 110/240V; 90 W
Ø 仪器尺寸(基座)及重量:600×160×543mm(L×W×H); 19 Kg
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- 粉体接触角测量仪的技术参数
德国LAUDA Scientific公司生产的LSA100POM粉体接触角测量仪是LSA100光学接触角测量仪配备粉末/多孔介质模块(POM)延伸而来,是一款专门用于测量粉末及多孔材料润湿性的光学仪器。此外LSA100POM可以选配多种测量模块完成滞留力测量、单一纤维接触角测量、俯视法接触角测量、界面扩张流变测量、全自动临界胶束浓度(CMC)等特殊任务,LSA100POM粉体接触角测量仪将为材料科学、界面化学、电子制造、纺织纤维等相关实验室提供更加专业的解决方案。
LSA100POM的技术参数如下:
Ø 接触角测量范围:0---180°
Washburm 法接触角测量范围:0---90°
接触角测量精度:±0.1°
接触角测量分辨率:0.01°
Ø 粉末样品测量频率:15Hz
Ø 吸收液体积:无限制
分辨率:0.1ul
Ø 标准吸收池类型:垂直式 、可选水平渗透池
尺寸:长40mm,直径10mm
Ø 表面/界面张力测量范围:1×10-2 --- 2×103mN/m
分辨率:0.01mN/m
Ø 视频图像系统(系统可升级)
镜头:6.5倍变焦光学镜头
分辨率:1280×960 pixel
相机速度:54fps @1280×960 pixel
视野范围:1.1×0.8---9.1×6.9(mm×mm)
备注:视频系统可选配6.5/8.6/12.9/45倍变焦光学镜头和高速相机,适合于复杂功能的应用。
Ø 视频调焦台
调节方式:X轴方向精密导轨调节,调焦范围:100 mm
Ø 样品台
调节方式:X/Y/Z三轴精密导轨调节 移动行程:100/100/50 mm
尺寸:100x100 mm
载重(max):12kg
Ø 加液单元调节台
调节方式:X/Y/Z三轴精密导轨调节 移动行程:85/76/60 mm
Ø 自动倾斜台
角度范围:0~360°
速度范围:0.05°--- 7°/s
Ø 样品尺寸(max):∞×290x76 mm(L×W×H)
Ø 光源:高亮度高均匀LED冷光源,亮度可手动/软件调节
Ø 电源:50/60Hz ; 110/240V; 90 W
Ø 仪器尺寸(基座)及重量:600×160×543mm(L×W×H); 19 Kg
- 纳米陶瓷的粉体
- 粉体工程的资料
- 粉体工程的基本概念
粉体的定义
粉体是由无数相对较小的颗粒状物质构成的集合体,有时具有固体的性质,在某些情况下又具有液体或气体的性质,有时还表现出一些奇异的特性。粉体的共同特征是:具有许多不连续的面、比表面积较大、由许多小颗粒状物质所组成,换言之,它们是许许多多小颗粒状物质的集合体。
粉体可分为单分散粉体和多分散粉体。如果构成粉体的所有颗粒的大小和形状均相同,则称这种粉体为单分散粉体。在自然界中,单分散粉体尤其是超微的单分散粉体极为罕见;目前只有用化学合成方法可以制备出近似的单分散粉体,尚无利用机械方法制备单分散粉体的报导。大多数粉体都是由大小不同、形状各异的颗粒所组成,这种粉体称为多分散粉体。
粉体的尺度
关于粉体的尺度,有人认为:小于1000μm的颗粒物为粉体,也有人以100μm为界,但迄今为止并未形成共识。按照Allen和Heywood等人的观点:粉体没有确切的上限尺寸,但其尺寸相对于周围的空间而言应足够的小。粉体是一个由多尺寸颗粒组成的集合体,只要这个集合体具备了粉体所具有的性质,其尺寸界限并不那么重要,所以,尽管没有确切的上限尺寸,但并不影响人们对其性质的研究。
粉体的形态
就粉体的形态而言,一般可以说它既具有固体的性质也具有液体的性质,有时也具有气体的性质。说它是固体颗粒,这*容易理解,因为无论颗粒多么小,毕竟具有一定的体积和形状。说它具有液体的性质,需要具备一定的条件:即粉体和某种流体形成一个两相体系,此时的两相流具有液体的性质,亦即此两相流虽具有一定的体积,但其形状却取决于容器或管道的形状,譬如自然界中的泥石流。如果两相流中的流体是气体,且其中的粉体体积分数相对较小、颗粒尺寸也比较小,即粉体弥散于气体介质中,此时粉体就具有气体的性质:既无确定的体积也无确定的形状,沙尘暴就是非常典型的一例。因此,有人认为,粉体是有别于气、液、固物质形态的第四种物质形态。
粉体的某些奇异特性
由于粉体形态的特殊性,使之表现出一些与常规认识不同的奇异特性。如粮仓效应、巴西豆效应、加压膨胀特性、崩塌现象、振动产生规则斑图现象、小尺寸效应等。
粉体工程与颗粒学
粉体工程是从集合体或整体的角度去研究对象,而颗粒学是从个体的角度去研究对象,而这个对象是同一个物质。粉体工程和颗粒学的不同还在于:粉体工程所研究的对象一般是固体颗粒,而颗粒学所研究的对象既有固体颗粒、也有液体颗粒和气体颗粒,如汽车发动机汽缸内的液滴大小和分布、混凝土中气孔的大小和分布等等
- 粉体力学是什么?
- 粉体的流动性测试仪原理
粉体的流动性(flowability)与粒子的形状、大小、表面状态、密度、空隙率等有关,加上颗粒之间的内摩擦力和粘附力等的复杂关系,粉体的流动性无法用单一的物性值来表达。然而粉体的流动性对颗粒剂、胶囊剂、片剂等制剂的重量差异影响较大,是保证产品质量的重要环节。粉体的流动形式很多,如重力流动、振动流动、压缩流动、流态化流动等,相对应的流动性的评价方法也有所不同,当定量地测量粉体的流动性时*采用与处理过程相对应的方法,表1列出了流动形式与相应流动性的评价方法。
表1 流动形式与其相对应的流动性评价方法
种 类
现象或操作
流动性的评价方法
重力流动
瓶或加料斗中的流出
旋转容器型混合器,充填流出速度,壁面摩擦角
休止角,流出界限孔径振动流动
振动加料,振动筛
充填,流出休止角,流出速度,
压缩度,表观密度压缩流动
压缩成形(压片)
压缩度,壁面摩擦角
内部摩擦角流态化流动
流化层干燥,流化层造粒
颗粒或片剂的空气输送休止角,*小流化速度
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- 只有烘箱和离心机等,没有专业干燥分体设备... 只有烘箱和离心机等,没有专业干燥分体设备 展开
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- 金相显微镜能不能测粉体
金相显微镜能不能测粉体?
金相显微镜作为一种用于观察金属样品的显微分析工具,广泛应用于材料科学和金属研究中。它能够通过对金属表面的观察,帮助研究人员了解金属的组织结构、相组成及晶粒大小等重要信息。当我们将其应用到粉体测量上时,是否能获得理想的效果?本文将深入探讨金相显微镜能否有效测量粉体,并分析其中的技术挑战与局限性。
金相显微镜的基本原理与应用
金相显微镜通过将样品制备成适合观察的薄片,借助不同的显微镜镜头和光源进行观察,从而获取材料的微观结构信息。通常,这类显微镜配备了高分辨率的光学系统,能够清晰呈现金属材料表面不同相区的结构特征,广泛应用于金属铸造、焊接、热处理等领域,帮助研究者了解材料的性能变化。
粉体的特殊性与金相显微镜的适应性
粉体由于其颗粒形态的特殊性,相较于常规的金属样品,更难通过传统金相显微镜进行观察。粉体材料的颗粒大小、形状、分布等特征对于显微镜的观察提出了更高的要求。金相显微镜主要适用于平整、稳定的固体表面观察,而粉体由于其颗粒形态和尺寸的不规则性,难以获得清晰的观察结果。粉体样品的制备过程通常需要将其制成薄片或者通过特殊处理固定,才能进行显微镜分析。
金相显微镜在粉体分析中的局限性
粉体的颗粒尺寸通常较小,且形状不规则,传统金相显微镜的分辨率和观察角度可能无法完全呈现颗粒的全貌。金相显微镜在观察粉体时需要样品表面平整,如果没有经过特殊的样品制备,观察效果可能会受到影响。再者,由于金相显微镜主要侧重于观察金属的微观结构,而粉体的形态和表面特性常常需要借助其他显微技术(如扫描电子显微镜 SEM)来获得更为的分析结果。
结论
金相显微镜虽然可以对粉体进行一定程度的观察,但由于粉体的颗粒特性、样品制备难度及金相显微镜的局限性,它并非粉体分析的佳选择。若要获得更高精度的粉体表征,推荐使用扫描电子显微镜(SEM)等其他更为适合粉体分析的仪器。
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