超细粉体的粒度如何分析

筛分分析方法*简单的也是应用*早的粒度分析方法是筛分法。但是，由于现今的标准筛*细一般只到400目，因此，对于小于10μm的超细粉体来说，不可能用标准筛进行粒度分析和检测。虽然新发展的电沉积筛网可以筛分小至5μm的粉体物料，但这种筛分技术由于筛分时间长和经常发生堵塞，很少在分析中使用。筛分分析是利用筛孔大小不同的一套筛子进行粒度分级。对于粒度小于100mm而大于0.038mm的松散物料，一般用筛分法测定其粒度组成和粒度分布。

  筛分分析采用的套筛一般有两种：一种为非标准筛，实验室可以自己制造，用于筛分粗粒物料。筛孔大小一般为150，120，100，80，70，50，25，15，12，6，3，2，1(mm)等，根据需要确定。另一种为标准套筛，用于筛分细度物料，标准套筛是由一套筛孔大小有一定比例的、筛孔宽度和筛丝直径都是按标准制造的筛子组。上层筛子的筛孔大，下层筛子的筛孔小，另外还有一个上盖(防止试样在筛分的过程中损失)和筛底(用来直接接取*层筛子的筛下产物)。

  将标准筛按筛孔由大到小，从上到下排列起来，各个筛子所处的层位叫筛序；在叠好的筛序中，每两个相邻的筛孔尺寸之比叫筛比。有些标准筛有一个作为基准的筛子叫基筛，如泰勒标准筛以200目筛子作为基筛