日本金属学会金属组织图像奖【Z奖】

第70回 日本金属学会金属组织图像奖【Z 优 秀 奖】

东京大学与日本电子产学合作室使用日本电子的球差校正透射电子显微镜JEM-ARM200F成功地观察到嫁接在CeO2催化纳米颗粒上的单一有机分子链，该图片获得第70回日本金属学会金属组织图像Z 优 秀 奖。

题名： 成功观察到嫁接在CeO2催化纳米颗粒上的单一有机分子链

获奖者：斎藤光浩、他

所属：东京大学与日本电子产学合作室（东京大学幾原研究室、名古屋大学高見研究室、東北大学阿尻研究室的共同研究成果）

氧化铈纳米颗粒通过将其特定的结晶面露到表面，被预测出具有高的催化功能，但是这种表面不稳定，一直被认为不可能合成。近年来，通过在表面上嫁接链状的有机高分子，在其特定表面上能够均匀地合成立方体纳米粒子，为了阐明其形成机理，有必要看清楚纳米颗粒表面的有机分子。

本研究中，使用JEM-ARM200F从电子束的收束角、defocus，ADF(环形暗场检测器)的检出角等方面系统地讨论了获取单一有机分子链图像的Z佳观察条件,成功地直接观察到在特定的纳米粒子表面吸着的有机分子链和其他粒子间架桥的样子。

今后，期待在新的领域扩大成像可能性的同时，进一步解明氧化铈纳米颗粒的催化活性化过程机理。

图1. （a）硅膜上分散的氧化铈颗粒的TEM像．(b) ADF像和EELS mapping．

(c) 氧化铈颗粒表面吸着的有机高分子链的LAADF像．

(d) 绿色圆点是(100)面上的Ce原子,紫和橙色圆点分别是(110),(111)面上的Ce原子．

（e）计算像．（f）结构模型．（g）氧化铈颗粒和吸着的有机高分子链的示意图