用椭偏仪测薄膜的的厚度和折射率时，对薄膜有何要求

在现代科学技术中，薄膜有着广泛的应用。因此测量薄膜的技术也有了很大的发展，椭偏法就是70年代以来随着电子计算机的广泛应用而发展起来的目前已有的测量薄膜的Z精确的方法之一。