可以做,也可以做高加速寿命试验,高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Testing,简称HALT试验)是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限,从而优化产品的可靠性。该试验已在国内外电子业界得到广泛关注和认识。
HALT试验项目分类
按照以下试验顺序
1. 试验前常温工作测试
2. 步进低温工作试验
3. 低温启动试验
4. 步进高温工作试验
5. 高低温循环试验
6. 步进随机振动试验
7. 高低温循环与步进随机振动结合的综合试验
8. 低温与随机振动结合的综合试验
9. 低温与随机振动结合的综合试验
HALT试验优势
1. 借助高环境应力,使产品设计缺陷提前激发出来,从而消除设计缺陷,大大提高设计可靠性;
2. 后期维修费用大大降低,因为所交付产品的可靠性得到了极大保障。
3. 了解产品的设计能力及失效模式
4. 可以找出产品的工作极限及破坏极限,为制定HASS(高加速应力筛选)方案,确定HASS的应力量级提供依据
5. 鉴定试验时故障大大减少,经过HALT试验的产品,鉴定试验已不再成为必须,可能会流于一种形式。