从x射线粉末衍射谱图能得到的材料的哪些特征

指标化（indexing）　的含义了，　其实类似的工作我以前做过，在测得XRD图谱后，对其各峰进行归属，即标名各XRD峰为（001），（110）等晶面，用JADE软件或XRD仪器自带的软件就可以做到。
但是，文献中说通过指标化得到晶体的外形，是如何做到的，如sigmax　兄所说的，要通过计算，我知道 MS.Reflex　（能对模拟结构和实验数据进行实时的比较。包括粉末衍射指标化及结构精修等工具）能否做到？
即，不同的结晶条件得到不同形状的同种晶体，通过XRD测不同形状晶体的XRD谱，通过该XRD谱计算得到其形状