x光电子衍射为什么能测晶体取向

多晶金属材料经机械加工、热处理等工艺，往往使晶粒的某些晶向或晶面与材料加工方向趋于一致。这种晶体取向称为择优取向或织构，它引起X射线衍射花样发生
变化，使得连续均匀的衍射环成不连续、强度加强的斑点或弧段，而另一些晶面的衍射线强度变小甚至消失。测定织构的方法有多种中，但X射线方法具有准确、全
面等特点，所以成为研究织构Z主要的方法。 在X射线衍射法中，一般用“极图”来表达织构。

用高能电子束轰击金属"靶"材产生X射线，它具有与靶中元素相对应的特定波长，称为特征(或标识)X射线。如通常使用的靶材对应的X射线的波长大约为1.5406埃。考虑到X射线的波长和晶体内部原子面间的距离相近，1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即当一束 X射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样，便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。