x射线测厚仪原理图

2.2、测厚仪工作原理

对于X射线，在其穿透被测材料后，射线强度I的衰减规律为

式中 I0———入射射线强度；

μ———吸收系数；

h———被测材料的厚度。

当μ和I0一定时，I仅仅是板厚h的函数，所以测出I就可以知道厚度h。

X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

X射线源辐射强度的大小，与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度，为了确定其所需的X射线能量值，可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任一特殊厚度时，系统将设定X射线的能量值，使检测能够顺利完成。

在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。当安全快门打开，X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过，被测钢板将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收，探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测钢板的厚度，则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。

楼上没有给出公式，就等于没有说出ZD，因此不要轻易的COPY。

简单的说，就是射线在穿透一定的物质时，其强度的呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为：I=Ir*EXP（-UX），Tr为初始射线强度，I为穿过物体后的射线强度，U为衰减系数，X为射线穿过的厚度。

对于不同的材料，其U值是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。一般而言密度越大的材料其U值就越大，比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是Z大的，相应的射线阻挡能力就越强，因此在核技术实验中用作屏障，与之类似的就是铅玻璃。