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集成电路的检测都会使用到哪些检测设备?

cyf791028 2008-09-19 08:27:44 571  浏览
  • 在集成电路的生产过程中都会使用哪些检验设备,集成电路成品出厂前怎样判定是合格品还是不合格品呢?还有类似功率器件,二\三极管,阻\容类,的产品合格是怎样判定的呢?回答的好还会加分... 在集成电路的生产过程中都会使用哪些检验设备,集成电路成品出厂前怎样判定是合格品还是不合格品呢?还有类似功率器件,二\三极管,阻\容类,的产品合格是怎样判定的呢? 回答的好还会加分 展开

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全部评论(6条)

  • 毛毛助攻专属79 2018-05-17 00:00:00
    如果是外观检测,比如尺寸大小,是否缺料,错位,偏移,缺料漏料等,就可以用思普泰克机器视觉检测设备

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  • 刘玺冥6 2008-09-20 00:00:00
    用专用电子仪器测试这些电子元器件是否满足各项参数的要求,静态电压电流,电阻特性,频率特性,线性度,失真度等等,具体细节我就不详细介绍了

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  • yuehk132 2008-09-20 00:00:00
    集成电路出来的东西没法儿修,坏了只能换个新的。想弄清楚什么地方坏了,为什么坏,也几乎是不可能的。就是检查问题也必须使用专用设备,用肉眼通常什么也看不出来。

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  • ttyhguu 2008-09-20 00:00:00
    我是学自动化毕业的 虽然现在弄电子的时间基本上没有了 但我可以这样给你说 万用表 示波器是一定要用的 至于你说的是什么产品 我不晓得 合格不合格 首先你要满足设计要求 满足各项参数 其次 就看你产品的使用寿命 二\三极管,阻\容类,的产品合格 可以用万用表测试 希望能帮助你

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  • 稍息立正打光棍 2008-09-21 00:00:00
    集成电路的检测(IC test)分为wafer test(晶圆检测)、chip test(芯片检测)和package test(封装检测)。 wafer test是在晶圆从晶圆厂生产出来后,切割减薄之前的检测。其设备通常是测试厂商自行开发制造或定制的,一般是将晶圆放在测试平台上,用探针探到芯片中事先确定的检测点,探针上可以通过直流电流和交流信号,可以对其进行各种电气参数检测。 对于光学IC,还需要对其进行给定光照条件下的电气性能检测。 wefer test主要设备:探针平台。 wefer test辅助设备:无尘室及其全套设备。 wefer test是效率Z高的测试,因为一个晶圆上常常有几百个到几千个甚至上万个芯片,而这所有芯片可以在测试平台上一次性检测。 chip test是在晶圆经过切割、减薄工序,成为一片片独立的chip之后的检测。其设备通常是测试厂商自行开发制造或定制的,一般是将晶圆放在测试平台上,用探针探到芯片中事先确定的检测点,探针上可以通过直流电流和交流信号,可以对其进行各种电气参数检测。chip test和wafer test设备Z主要的区别是因为被测目标形状大小不同因而夹具不同。 对于光学IC,还需要对其进行给定光照条件下的电气性能检测。 chip test主要设备:探针平台(包括夹持不同规格chip的夹具) chip test辅助设备:无尘室及其全套设备。 chip test能检测的范围和wafer test是差不多的,由于已经经过了切割、减薄工序,还可以将切割、减薄工序中损坏的不良品挑出来。但chip test效率比wafer test要低不少。 package test是在芯片封装成成品之后进行的检测。由于芯片已经封装,所以不再需要无尘室环境,测试要求的条件大大降低。 一般package test的设备也是各个厂商自己开发或定制的,通常包含测试各种电子或光学参数的传感器,但通常不使用探针探入芯片内部(多数芯片封装后也无法探入),而是直接从管脚连线进行测试。 由于package test无法使用探针测试芯片内部,因此其测试范围受到限制,有很多指标无法在这一环节进行测试。但package test是Z终产品的检测,因此其检测合格即为Z终合格产品。 IC的测试是一个相当复杂的系统工程,无法简单地告诉你怎样判定是合格还是不合格。 一般说来,是根据设计要求进行测试,不符合设计要求的就是不合格。而设计要求,因产品不同而各不相同,有的IC需要检测大量的参数,有的则只需要检测很少的参数。 事实上,一个具体的IC,并不一定要经历上面提到的全部测试,而经历多道测试工序的IC,具体在哪个工序测试哪些参数,也是有很多种变化的,这是一个复杂的系统工程。 例如对于芯片面积大、良率高、封装成本低的芯片,通常可以不进行wafer test,而芯片面积小、良率低、封装成本高的芯片,Z好将很多测试放在wafer test环节,及早发现不良品,避免不良品混入封装环节,无谓地增加封装成本。 IC检测的设备,由于IC的生产量通常非常巨大,因此向万用表、示波器一类手工测试一起一定是不能胜任的,目前的测试设备通常都是全自动化、多功能组合测量装置,并由程序控制,你基本上可以认为这些测试设备就是一台测量专用工业机器人。 IC的测试是IC生产流程中一个非常重要的环节,在目前大多数的IC中,测试环节所占成本常常要占到总成本的1/4到一半。

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  • qq2715404164 2015-08-10 00:00:00
      检测之前要做的工作就是要充分了解集成电路的工作原理。要熟悉它的内部电路,主要参数指标,各个引出线的作用及其正常电压。diyi部工作做的好,后面的检查就会顺利很多。 集成电路很敏感,所以测试的时候要注意不要引起引脚之间的短路,任何一瞬间的短路都能被捕捉到,从而造成集成电路烧坏。另外,如果没有隔离变压器时,是严禁用已经接地的测试设备去碰触底盘带电的设备,因为这样容易造成电源短路,从而波及广泛,造成故障扩大化。焊接时,要保证电烙铁不带电,焊接时间要短,不堆焊,这样是为了防止焊锡粘连,从而造成短路。但是也要确定焊牢,不允许出现虚焊的现象。在有些情况下,发现多处电压发生变化,此时不要轻易下结论就是集成电路已经坏掉了。要知道某些故障也能导致各个引脚电压测试下来与正常值一样,这时候也不要轻易认为集成电路就是好的。 集成电路的工作环境要求有良好的散热性,不带散热器并且大功率工作的情况只能加速集成电路的报废。集成电路其实很灵活,当其内部有部分损坏时,可以加接外围小型元器件来代替这已经损坏的部分,加接时要注意接线的合理性,以防造成寄生耦合。

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说到检测设备,几乎每个行业都需要,但是可能我们不太了解自己的产品都会用到哪些检测设备,今天小编就和大家说说电线电缆行业会用到的一些检测设备,具体情况如下:

1、万能材料试验机:测试电线电缆之拉张强度不断裂长度;

2、拉力试验机:测试电线电缆拉伸、剥离、抗压、弯曲、抗剪切、撕裂、三点抗折等各项测试性能;

3、老化试验机:测试橡胶及其制品在臭氧及紫外线照射下的老化性能

4、恒温恒湿试验箱:试验电线电缆之耐热、耐潮湿、耐干、耐低温的性能;

  

5、快速温变试验机:对电线电缆做超低温试验;

6. 盐雾腐蚀试验箱:用来测试材料及其防护层的抗盐雾腐蚀的能力

7、低温耐寒试验机:测试电线电缆等材料耐寒程度以了解材料或成品适应低温气候或寒冷地区的情形;

8、电线加热变形试验机:将电线电缆皮等试片在一定温度中放置30分钟后,施加荷重于试片,再放置 30分钟,其加热前后之厚度比即为变形率;

9.电线电缆垂直燃烧试验仪:适用在规定火焰条件下单根绝缘电线或电缆的燃烧试验方法及试验要求。

10.水平垂直燃烧测试仪:对材料可燃性进行定级评定

 

11、.测厚仪:是用来测量材料及物体厚度的仪表;

12、电线低温冷挠试验机:导体断面积100平方毫米以下之试料在本机内冷却1小时后,立即以均匀之速度绕卷于规定直径之圆杆上,断面积100平方毫米以上之试料,则先行绕卷,再冷却相同之时间后,立即以及反方向绕卷于圆杆上,取出试料检视表面是否产生龟裂、裂痕;

13、标准光源箱:提供标准客观的光源使得电线电缆及产品颜色的对比,能有精确的控制;

14、恒温水槽:电线电缆经恒温水槽一定时间之温水浸渍试验后,视察是否变质,表面有无起泡褪色、膨胀等现象,以判定品质,也可试验前后之重量变化率。

15.绝缘电阻测试仪:主要用来检查电气设备、家用电器或电气线路对地及相间的绝缘电阻,以保证这些设备、电器和线路工作在正常状态,避免发生触电伤亡及设备损坏等事故!

以上都会电线电缆行业可能会用到的检测设备,具体以每个公司实际需求来选择适合自己的设备,有任何疑问都可联系泰规仪器,为您提供免费的技术咨询服务。


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