X荧光光谱仪如何设置测试镀层厚度

XRF是用来测成分含量的，并不能用来测厚度。而且XRF也不能用来测镀层的，基体影响很大。你说的应该是X光测厚仪，是根据反射回电子通过惰性气体流动产生电流的大小来确定厚度的。
X光测厚是无损检测，多用来在线测量。用的比较普遍的还是金相显微镜

理论上讲X荧光光谱仪是具备测试镀层厚度功能的。因为测镀层首先要有制造商开发的软件支持才可以完成，这种技术也是一项比较复杂的技术，所以并不是每家生产的X荧光光谱仪都可以测的，即便有些厂家可以测，但也不一定能测好。如果你已经购买了仪器，没有厂家的支持，自己是无法设置的。
我司从事此行业20多年，是国内技术比较成熟的生产厂家。

楼上的是正解，你要表达的应该是X荧光测厚仪，你想测的厚度看要求是什么精度，是不是要用到这么高的精度，只有到纳米级别的才用的到，要是测量到微米的话，只要用普通的涂层测厚仪就可以了，希望能帮到你。

涂镀层检测

目的：
检查涂覆、电镀、化学镀所形成镀层厚度及其镀层均匀性
涂/镀层产品来料厚度检验

方法：
截面法（仲裁方法）
X射线荧光膜厚法

依据标准：
截面法：GB/T 6462-2005，ASTM B 487-85(2002)， ASTM B748-1990(2010)
X射线荧光膜厚法：ASTM B 568-98，GB/T 16921-2005，ISO 3497

X射线荧光膜厚法的测试结果会存在一定误差，如果追求精确数据，推荐截面法。

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
一次可同时分析Z多24个元素，五层镀层。
分析检出限可达2ppm，Z薄可测试0.005μm。
分析含量一般为2ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V， 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动