使用频谱仪测试相位噪声的操作步骤

频谱分析仪测试一致性测试通常作为产品投产前设计质保的一部分完成。一致性测试内容繁多，耗时长，如果在产品开发的这个阶段EMC 测试失败，那么会要求重新设计，不仅成本高昂，而且会耽误产品推出。

　　执行预一致性测试可以帮助您在把产品送到正式测试前发现不符合规范的情况。泰克基于USB接口的RSA306实时频谱分析仪的问世，预一致性测试变得前所未有的简便和经济，放射辐射测量和传导辐射测量可以帮助您限度地减少产品通过EMI 认证所需的费用和时间。本文将用两个实测案例，分析基于RSA306实现放射辐射和传导辐射的测试方法。

　　频谱分析仪测试放射辐射测量案例分析

　　在我们的预一致性测试中，我们使用了一米和几厘米两种距离。降低DUT(被测设备)与测试天线之间的距离会提高DUG信号强度与RF背景噪声之比。遗憾的是，近场结果并不会直接转换成EMI一致性测试中使用的远场测试，因此在得出结论时必须慎重增加预放是提升相对DUT 信号电平的另一种好方法。

　　天线的选择

　　频谱分析仪测试测量中使用了三台成本非常低的PC板对数周期天线和一台双锥天线。这些天线安装在三脚架上，放置简便。天线因数(AF) 和电缆损耗可以输入到RSA306中，校正场强。双锥天线用于20 - 200 MHz频率，较长的20 - 200 MHz 波长要求较大的天线，背景噪声也可能是一个问题，因为它包括许多无线广播频率。

　　分析环境特性和测试结果

　　在把天线校正因数和电缆损耗输入RSA306后，打开峰值检测器电源，设置极限行。调节极限行，适应测试环境。

　　在打开DUT电源前，一定要评估和分析测试环境特性(图1)。在极限行和环境噪底之间是否有足够的信号空间?是否有可以降低的已知信号?是否需要把测试设置移到更安静的环境?

　　图1： 环境背景结果。在VHF 频段中可以清楚地看到广播信号。

　　图2：DUT的测试结果，超限情况不是由DUT引起的。

　　如果您对背景噪声满意，打开DUT电源。两项测量之差即来自DUT的辐射(图2)。在测试中，使用已经通过EMI一致性测试的泰克WiFi演示电路板，因此没有检测到失败。如果已经正确设置测试，没有什么东西接近极限行，那么这可能意味着您已经可以准备进行一致性测试。

　　如果在这个阶段发现问题，那么可能要求进一步诊断和修改设计。RSA306上提供的功能既支持一致性测量，也支持诊断。熟悉DUT设计的工程师可以确定问题信号。近场探测工具也可能会非常实用，后面会对此展开讨论。

　　近场测量与远场测量

　　在频谱分析仪测试全面一致性测试实验室中，使用EMI 接收机和精心校准的天线，在3米或10米距离上测试电子器件。换言之，也可能在远场中完成测量。这些测试舱旨在消除或大大降低所有不想要的RF信号，以便只测量DUT的EMI信号。

　　尽管我们需要尽努力来保证预一致性测试中的RF背景噪声达到最小，但背景噪声可能仍然很明显。降低测试天线与DUT 之间的距离可以提升DUT 相对于RF 背景的信号电平。

　　传导辐射测量案例分析

　　图3显示了测试设置的方框图，被测器件是笔记本电脑使用的通用的AC/DC电源适配器。

　　工频阻抗稳定性网络(LISN)

　　注意,一定要先从LISN上断开频谱分析仪输入，然后再从LISN中拔下电源，LISN放电可能会损坏频谱分析仪前端。

　　在传导辐射测量中，您使用的是LISN而不是天线。LISN是一种低通滤波器，放在AC或DC 电源与DUT 之间，创建已知阻抗，提供一个RF 噪声测量端口。它还把不想要的RF 信号与电源隔开。增加一个预放也是提升相对DUT 信号电平的好方法。

　　注意，60 或50 Hz 电源上传导的干扰对某些设计可能也是一个问题。大多数传导EMI测试规定了9 kHz- 1 GHz 实测频率范围，但在需要时也可以在更低频率上测量信号。对低频测量，RSA5100 系列实时频谱分析仪是很好的选择，因为它们可以覆盖直到1 赫兹以下的频率范围。为最有效地测量传导EMI，使用两个LISN：一个用于到DUT 的规定阻抗，一个用于频谱分析仪或接收机。

　　图3： 预一致性传导辐射测试的方框图。

　　图4：传导辐射测试显示频谱较低一端有超限的情况。

　　功率滤波器

　　对传导测量，背景噪声来自于电源。尽管LISN提供了一定的隔离度，但您经常需要额外的功率滤波。在我们的测量中，结果主要是来自大楼电源的噪声。通过增加电源滤波器，我们可以把进入的噪声降低到足够的水平，来进行我们的传导测量。

　　分析环境特性和测试结果

　　首先，我们把LISN校正因数输入RSA306，打开峰值检测器电源，设置极限行。在打开DUT 电源前，一定要评估和分析测试环境特性。极限行与噪底之间是否有足够的空间?是否需要增加功率滤波器?如果您对背景噪声满意，打开DUT电源，按该顺序把LISN输出连接到频谱分析仪上。两项测量之差即来自DUT的辐射( 图4)。

　　在传导测量中， DUT是网上购买的成本非常低的笔记本电脑电源。我们使用备用笔记本电脑作为电源负载。在这种情况下，我们可以看到测试失败。图5显示DUT传导辐射在大约172 Hz处高出极限。RSA306上提供的功能可以执行预一致性测量和诊断。熟悉DUT设计的工程师可以确定问题信号。这时近场探测工具也非常实用。如果您已经正确设置测试，没有什么东西接近极限行，那么这可能意味着您已经可以准备进行一致性测试。

　　总结

　　EMI频谱分析仪测试一致性测试失败成本高，可能会使产品开发周期面临风险。而设置自己的预一致性测试可以帮助您隔离任何问题区域，在把设计发往标准测试机构前解决问题。泰克RSA306提供了全新的低成本预一致性测试功能，可以在您的产品获得EMI 认证时帮助您限度地减少所需的费用和时间。

频谱分析仪测试一致性测试通常作为产品投产前设计质保的一部分完成。一致性测试内容繁多，耗时长，如果在产品开发的这个阶段EMC 测试失败，那么会要求重新设计，不仅成本高昂，而且会耽误产品推出。

　　执行预一致性测试可以帮助您在把产品送到正式测试前发现不符合规范的情况。泰克基于USB接口的RSA306实时频谱分析仪的问世，预一致性测试变得前所未有的简便和经济，放射辐射测量和传导辐射测量可以帮助您减少产品通过EMI 认证所需的费用和时间。本文将用两个实测案例，分析基于RSA306实现放射辐射和传导辐射的测试方法。

　　频谱分析仪测试放射辐射测量案例分析

　　在我们的预一致性测试中，我们使用了一米和几厘米两种距离。降低DUT(被测设备)与测试天线之间的距离会提高DUG信号强度与RF背景噪声之比。遗憾的是，近场结果并不会直接转换成EMI一致性测试中使用的远场测试，因此在得出结论时必须慎重增加预放是提升相对DUT 信号电平的另一种好方法。

　　天线的选择

　　频谱分析仪测试测量中使用了三台成本非常低的PC板对数周期天线和一台双锥天线。这些天线安装在三脚架上，放置简便。天线因数(AF) 和电缆损耗可以输入到RSA306中，校正场强。双锥天线用于20 - 200 MHz频率，较长的20 - 200 MHz 波长要求较大的天线，背景噪声也可能是一个问题，因为它包括许多无线广播频率。

　　分析环境特性和测试结果

　　在把天线校正因数和电缆损耗输入RSA306后，打开峰值检测器电源，设置极限行。调节极限行，适应测试环境。

　　在打开DUT电源前，一定要评估和分析测试环境特性(图1)。在极限行和环境噪底之间是否有足够的信号空间?是否有可以降低的已知信号?是否需要把测试设置移到更安静的环境?

　　图1： 环境背景结果。在VHF 频段中可以清楚地看到广播信号。

　　图2：DUT的测试结果，超限情况不是由DUT引起的。

　　如果您对背景噪声满意，打开DUT电源。两项测量之差即来自DUT的辐射(图2)。在测试中，使用已经通过EMI一致性测试的泰克WiFi演示电路板，因此没有检测到失败。如果已经正确设置测试，没有什么东西接近极限行，那么这可能意味着您已经可以准备进行一致性测试。

　　如果在这个阶段发现问题，那么可能要求进一步诊断和修改设计。RSA306上提供的功能既支持一致性测量，也支持诊断。熟悉DUT设计的工程师可以确定问题信号。近场探测工具也可能会非常实用，后面会对此展开讨论。

　　近场测量与远场测量

　　在频谱分析仪测试全面一致性测试实验室中，使用EMI 接收机和精心校准的天线，在3米或10米距离上测试电子器件。换言之，也可能在远场中完成测量。这些测试舱旨在消除或大大降低所有不想要的RF信号，以便只测量DUT的EMI信号。

　　尽管我们来保证预一致性测试中的RF背景噪声达到最小，但背景噪声可能仍然很明显。降低测试天线与DUT 之间的距离可以提升DUT 相对于RF 背景的信号电平。

　　传导辐射测量案例分析

　　图3显示了测试设置的方框图，被测器件是笔记本电脑使用的通用的AC/DC电源适配器。

　　工频阻抗稳定性网络(LISN)

　　注意,一定要先从LISN上断开频谱分析仪输入，然后再从LISN中拔下电源，LISN放电可能会损坏频谱分析仪前端。

　　在传导辐射测量中，您使用的是LISN而不是天线。LISN是一种低通滤波器，放在AC或DC 电源与DUT 之间，创建已知阻抗，提供一个RF 噪声测量端口。它还把不想要的RF 信号与电源隔开。增加一个预放也是提升相对DUT 信号电平的好方法。

　　注意，60 或50 Hz 电源上传导的干扰对某些设计可能也是一个问题。大多数传导EMI测试规定了9 kHz- 1 GHz 实测频率范围，但在需要时也可以在更低频率上测量信号。对低频测量，RSA5100 系列实时频谱分析仪是很好的选择，因为它们可以覆盖直到1 赫兹以下的频率范围。为最有效地测量传导EMI，使用两个LISN：一个用于到DUT 的规定阻抗，一个用于频谱分析仪或接收机。

　　图3： 预一致性传导辐射测试的方框图。

　　图4：传导辐射测试显示频谱较低一端有超限的情况。

　　功率滤波器

　　对传导测量，背景噪声来自于电源。尽管LISN提供了一定的隔离度，但您经常需要额外的功率滤波。在我们的测量中，结果主要是来自大楼电源的噪声。通过增加电源滤波器，我们可以把进入的噪声降低到足够的水平，来进行我们的传导测量。

　　分析环境特性和测试结果

　　首先，我们把LISN校正因数输入RSA306，打开峰值检测器电源，设置极限行。在打开DUT 电源前，一定要评估和分析测试环境特性。极限行与噪底之间是否有足够的空间?是否需要增加功率滤波器?如果您对背景噪声满意，打开DUT电源，按该顺序把LISN输出连接到频谱分析仪上。两项测量之差即来自DUT的辐射( 图4)。

　　在传导测量中， DUT是网上购买的成本非常低的笔记本电脑电源。我们使用备用笔记本电脑作为电源负载。在这种情况下，我们可以看到测试失败。图5显示DUT传导辐射在大约172 Hz处高出极限。RSA306上提供的功能可以执行预一致性测量和诊断。熟悉DUT设计的工程师可以确定问题信号。这时近场探测工具也非常实用。如果您已经正确设置测试，没有什么东西接近极限行，那么这可能意味着您已经可以准备进行一致性测试。

　　总结

　　EMI频谱分析仪测试一致性测试失败成本高，可能会使产品开发周期面临风险。而设置自己的预一致性测试可以帮助您隔离任何问题区域，在把设计发往标准测试机构前解决问题。泰克RSA306提供了全新的低成本预一致性测试功能，可以在您的产品获得EMI 认证时帮助您减少所需的费用和时间。

温度传感器特性测试：全面了解温度传感器性能的重要性

温度传感器在现代技术中发挥着至关重要的作用，从工业控制到消费电子设备的温度监测，温度传感器的准确性和稳定性直接影响系统的性能和安全性。因此，温度传感器的特性测试显得尤为重要。本文将深入探讨温度传感器特性测试的核心内容，分析不同类型温度传感器的工作原理和测试方法，旨在帮助工程师和技术人员提高对温度传感器测试过程的理解，确保传感器在实际应用中的可靠性和精度。

温度传感器的类型及其特性

温度传感器种类繁多，主要包括热电偶、热敏电阻、红外传感器等。每种传感器具有不同的工作原理和应用场景，因此，其特性测试方法也存在差异。热电偶通常用于高温环境下，它通过热电效应将温差转换为电压信号，广泛应用于工业领域；热敏电阻则通过电阻值的变化来感知温度，常见于精密测量和低温范围内。红外传感器则通过检测物体发出的红外辐射来测量温度，通常用于无接触测温。了解这些传感器的不同特性，有助于选择合适的测试方法。

温度传感器的常见特性测试方法

温度传感器的性能测试主要包括准确性测试、响应时间测试、稳定性测试和线性度测试等多个方面。准确性测试是基本也是重要的测试之一，通常通过将传感器与已知温度源进行对比，测量其输出与实际温度之间的偏差。这一测试能够有效评估传感器在实际使用中的精度表现。

响应时间测试则是用来评估传感器在温度变化时的反应速度。在许多应用中，传感器的响应时间对整体系统的效率至关重要，尤其是在快速变化的环境中。因此，快速且稳定的响应能力是一个优质温度传感器的基本要求。

稳定性测试则是通过长时间工作测试传感器是否会出现漂移，确保其在长期使用中的精度和可靠性。温度传感器在高温或低温环境下的稳定性尤为重要，尤其是在高精度要求的场合，如实验室设备和航空航天领域。

线性度测试则是检查温度传感器输出与温度变化之间的关系是否呈线性。在某些应用中，传感器输出的线性度直接关系到系统的控制精度，尤其是在需要精确测量温度的系统中，线性误差的存在可能导致显著的偏差。

温度传感器测试中的环境因素

除了基本的性能测试外，环境因素对温度传感器的影响也不容忽视。温度传感器的工作环境，包括湿度、电磁干扰、振动等，都可能影响其测试结果。因此，在实际测试过程中，需要模拟不同的工作环境，进行环境适应性测试，以确保传感器能够在各种复杂条件下稳定工作。例如，高湿度或剧烈的温度变化可能对传感器的输出产生不利影响，因此需要对其进行充分的测试和验证。

结语：保证高性能温度传感器的可靠性

通过温度传感器特性测试，工程师能够全面了解传感器的各项性能，进而选择合适的传感器应用于特定的工程项目中。精确的温度测量是保证系统安全、高效运行的基础，因此，对温度传感器的全面测试是每个工程项目不可忽视的关键步骤。只有经过充分测试和验证的温度传感器，才能在各类复杂环境中发挥其应有的作用，保障设备的正常运行和性能优化。

密封性测试仪是检测包装密封性能的重要指标，尤其是包装行业，其产品质量的好坏和密封性能息息相关，若不密封，将导致日后泄漏或变质。包装密封强度功能依靠密封性实验仪的检测，针对这行业的包装，应在规则的密封进程关键参数变量的上、下限处测定密封强度，并应证明是否满意预期意图。（通过察看密封强度值的变化有助于评价包装密封进程是否受控）密封性测试仪主要用于检测产品包装袋、盒子、瓶子、罐子等的密封性能检测。

其次，气密性检测仪的检测介质是气体，密封性检测仪可以是气体或液体。气密性检测仪和密封性检测仪可分为：

1. 正压气密性检测：采用正压充气原理。

2. 负压气密性检测：采用抽真空检测原理。

今天，小编将重点介绍密封性测试仪的测试原理和操作步骤。

密封性测试仪测试原理：

将真空室抽真空，使浸泡在水中的样品产生内外压差，观察样品内气体外逸情况，以确定样品的密封性能；

通过对真空室抽真空，使样品产生内外压差，观察真空释放后样品的膨胀和形状恢复情况，以确定样品的密封性能。

密封性测试仪操作步骤：

1.往真空室中倒入清水，高度超过缸盖上的底层压板面，为了保证密封效果，在密封环上洒一点水。

2.盖上真空室的密封盖，旋开密封性测试仪上的开关，调节密封性测试仪的控制调节旋钮，观察真空压力表，将压力调节至试验所需的稳定数值。

3.把密封性测试仪的开关拧到关闭的位置，排除真空，打开真空室密封盖将样品浸在水中，此时样品的顶面和表面距离不应低于25mm。

注意：只要确保在测试过程中能够观察到样品各部分的泄漏，一次可测试2个以上样品。

4.盖上真空室的密封盖，把开关转到打开的位置，开始向真空室抽真空。

注意：可调真空度的大小取决于样品的性质(如包装材料、密封等)或相关产品标准的规定。

5.在抽气过程中和达到预设真空度之后，根据是否出现连续的气泡，在真空保持期间试样的泄漏。单独的单点气泡通常不被视为泄漏。

6.密封性测试仪上的开关旋至关的位置，排除真空，打开密封盖，取出试样，用水擦洗包装袋表面的水份，观察包装袋表面损坏情况。

济南赛成仪器一直致力于为大部分国家客户提供高性价比的整体解决方案，公司的核心宗旨就是持续创新，打造高精尖检测仪器，满足行业内不同客户的品控需求，期待与行业内的企事业单位增进交流和合作。

赛成仪器，赛出品质，成就未来！

垂直轴偏差是玻璃瓶的一项重要理化性能指标。垂直轴偏差不合格不仅影响制药厂对药品的罐装，还会造成药水或其他盛装物的损失。在YBB00192003中规定的垂直轴偏差是指玻璃瓶绕瓶底中心轴旋转一周时，瓶口的中心绕瓶底中心轴所作圆的直径的二分之一。

随着药包材管理规范中对药用玻璃瓶的轴偏差有着严格的规定，相关标准明确出台了关于垂直轴偏差测试的标准，从而促使药用包装玻璃瓶企业的生产规范化，进而较大程度保证药品包装材料的质量。GB/T 8452-2008标准明确制定了玻璃瓶罐垂直轴偏差试验方法；《QB/T1868-2004聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)碳酸饮料瓶》也出台了相关的饮料瓶的轴偏差数值；国家药品包装容器YBB00192003《垂直轴偏差测定法》对西林瓶、安瓿瓶、输液瓶等垂直轴偏差的测量与规定定期进行更新矫正。

济南赛成仪器研发的ZPY-G 电子轴偏差测试仪专业用于输液瓶、西林瓶、口服液瓶、药用塑料瓶各种瓶容器的垂直度偏差检测。

玻璃瓶轴偏差测试方法操作步骤

1.玻璃瓶罐夹持在水平旋转底盘上，使瓶口与百分表接触，旋转360°读取较大值和较小值，较大值和较小值之差的1/2即为垂直轴偏差数值。如用附有V形块的底板时，则将样品紧靠在V形块上，测量时在与水平面成45°的方向上对样品施加一个向下的压力，并旋转玻璃瓶罐360°。

2.记下瓶口边缘外侧与固定点之间的较大和较下距离，垂直轴偏差是测得的较大值和较小值之差的一半。

3.测量数值的精度应不小于0.1mm。。

4.按精度修正由实测得到的垂直轴偏差。

赛成仪器生产的ZPY-G 电子轴偏差测试仪严格按照YBB00192003-2015《垂直轴偏差测定法》中规定设计，PVC面板设计，简单直观，操作方便，测量头自动升降，调节测点位置，方便实用，配有微型打印机，快速打印测试结果，自动统计较大值、较小值、偏差值，方便用户分析结果，是玻璃瓶垂直轴偏差检测的理想选择。