在wan能工具显微镜上测量轴径，哪种测量方法精度高？为什么？

答案是：在wan能工具显微镜上测量轴径一般有影像法、轴切法、接触法和干涉法。
影像法
影像法是利用ZY显微镜米字线标记，对被测件影像进行瞄准定位的测量方法。这种测量方法精度不高。测量误差为（L为被测件测量长度单位为mm），产生测量误差的主要原因是轮廓影像不清晰和畸变，瞄准误差大。
轴切法
轴切法就是测量刀法，它是利用ZY显微镜米字线标记对被测件在水平轴截面内接触的测量刀上的刻线进行瞄准定位的测量方法。这种测量方法的测量精度在很大程度上取决于测量刀的精度，而测量刀在使用过程中又容易磨损，操作不当还会加快磨损。当测量刀无磨损，安装操作均合理时，其测量精度可比影像法提高约一倍，达。
接触法
接触法就是光学灵敏杠杆法。它是利用ZY显微镜米字线标记对和紧靠测量件的光学灵敏杠杆测头连在一起的双刻线进行瞄准定位的测量方法。由于采用双线套合可提高瞄准精度，但需找出视野内双刻线出现的转折点（即测量拐点）为被测ZX测量面的位置，所以轴径的测量，找拐点的位置尤为重要。另外测力影像不容忽视。
干涉法
在工具显微镜上利用斜向照明装置，使被测轴径边缘产生平行的各级干涉条纹。干涉测量法就是利用干涉条纹代替轴切法的测量刀刻线对被测件进行瞄准读数。
干涉条纹的产生是罗埃镜干涉原理，当被测轴径一定时，diyi条干涉条纹和轮廓的距离b是不变的。答案来自：好 域 安 机 械 论 坛

答案是：在wan能工具显微镜上测量轴径一般有影像法、轴切法、接触法和干涉法。
轴切法就是测量刀法，它是利用ZY显微镜米字线标记对被测件在水平轴截面内接触的测量刀上的刻线进行瞄准定位的测量方法。