全部评论(3条)
-
- 2018飞鱼 2017-11-24 00:00:00
- 如果需要测量陶瓷、薄膜材料的介电常数,需要使用专业的介电温谱仪测量。介电温谱仪中的测试夹具依据国际标准ASTMD150方法设计,采用平行板电极原理,测试电极由上下电极+保护电极组成。上下电极具有良好的同心度和平行度,保护电极可减少周围
-
赞(11)
回复(0)
-
- 我叫董舒 2017-11-24 00:00:00
- 如果需要测量陶瓷、薄膜材料的介电常数,需要使用专业的介电温谱仪测量。三琦介电温谱仪中的测试夹具依据国际标准ASTM D150方法设计,采用平行板电极原理,测试电极由上下电极+保护电极组成。上下电极具有良好的同心度和平行度,保护电极可减少周围空气电容的影响,使得测试数据更加准确可靠。 为了确保测量结果的准确性,样品制备需要遵循以下几点: 1、样品大小:直径5-40mm(电极直径为26.8mm),厚度小于8mm; 2、样品形状制备为圆盘样品,两面镀上电极; 3、样品表面须平整光滑,才能保证与平行电极接触良好。否则,测出的电容值因为存在接触间隙而导致测试的值有误差,影响测试结果。
-
赞(11)
回复(0)
-
- lichaoning6118 2017-11-24 00:00:00
- 如果需要测量陶瓷、薄膜材料的介电常数,需要使用专业的三琦介电温谱仪测量。介电温谱仪中的测试夹具依据国际标准ASTM D150方法设计,采用平行板电极原理,测试电极由上下电极+保护电极组成。上下电极具有良好的同心度和平行度,保护电极可减少周围空气电容的影响,使得测试数据更加准确可靠。 因此,在测量前,需制备好样品。为了确保测量结果的准确性,样品制备需要遵循以下几点: 1、样品大小:直径5-40mm(电极直径为26.8mm),厚度小于8mm; 2、样品形状制备为圆盘样品,两面镀上电极; 3、样品表面须平整光滑,才能保证与平行电极接触良好。否则,测出的电容值因为存在接触间隙而导致测试的值有误差,影响测试结果。 Z后,使用三琦介电温谱仪自动完成材料的高温介电常数测量。其测量软件可同时测量及输出频率谱、电压谱、偏压谱、温度谱、介电温谱数据。支持TXT、Excel、Bmp格式导出。
-
赞(4)
回复(0)
热门问答
- 陶瓷介电温谱测试,对制备样品有什么要求?
- 陶瓷介电温谱测试,对制备样品有什么要求?
- 高温介电温谱测量系统测陶瓷介电温谱方法?
- 怎么用高温介电温谱测量系统测陶瓷的介电温谱数据?求解答?
- 长沙有做介电温谱仪的吗?需要测量陶瓷介电温谱数据。
- 就是测陶瓷的高温介电常数和介电损耗。
- 介电温谱仪中的介电温谱测试夹具有什么特点?可以测什么材料?
- 陶瓷材料高温介电测试,可以使用高温介电温谱仪测试吗?
- 需要测陶瓷材料的高温介电特性,请问下高温介电温谱仪可以测试吗?另外,对陶瓷样品制备有什么要求?
- 什么是高温介电温谱仪?
- 高温介电温谱仪是什么?
高温介电温谱仪是什么?
高温介电温谱仪是一款专门用于评估电介质材料高温介电机制(材料极化、储能、驰豫、相变、微结构变化、分子团重新取向等)的重要测量系统,该系统通过测量介电常数、介电损耗和阻抗、相位随温度、频率变化的关系,直接得出电介质材料的温度谱、频率谱、阻抗谱、Cole-Cole图等重要的物理性能参数。高温介电温谱仪是科研实验室新材料的开发和研究、生产质量控制和生产工艺优化的重要工具。
高温介电温谱仪从专业角度来说,其实就是高温介电温谱测量系统。高温介电温谱测量系统是为了满足材料在高温环境下的介电性能测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成,包括高温测试平台、高温测试夹具、阻抗分析仪和高温介电测量系统软件四个组成部分。高温测试平台是为样品提供一个高温环境;高温测试夹具提供待测试样品的测试平台;阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。Z后,再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起,形成一套由实验方案设计到温度控制、参数测量、图形数据显示与数据分析于一体的高温介电温谱测量系统。
高温介电温谱测量系统就是可以在高温、真空、气氛测量条件下测量电介质材料的介电常数和损耗、阻抗谱COLE-COLE图、机电耦合系数Kp的科研仪器设备。除高温介电温谱测量系统外,北京华测试验仪器有限公司还有高低温介电温谱测量系统、低温介电温谱测量系统(由低温真空探针台和介电测量套件组成)等。
- 使用介电温谱测试仪,怎么测量陶瓷高温介电常数以及介电损耗?
- 介电温谱测量系统可以测陶瓷,薄膜材料的高温介电常数吗?有什么优势?
- GX液相色谱法对测试样品有什么要求
- 高温介电温谱测试系统 研发成功 隆重上市 三年质保 品质有保障
高温介电温谱测试系统
高温介电温谱测试系统运用三电极法设计原理测量。并参考美国 A.S.T.M 标准。重复性与稳定性更好,采用双屏蔽高频测试线缆,提高测试参数的准确度,同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。
搭配Labview系统开发的Huacepro软件,具备弹性的自定义功能,可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置,符合压电陶瓷与其它新材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全;资料保存机制,当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中,不丢失试验数据,设备重新启动后可恢复原有试验数据。
目前电网中大量使用变频器等高频、高功率设备,将对电网造成谐波干扰。从而在高频、弱信号测量过程中影响弱信号的采集,华测仪器公司推出的抗干扰模块以及采用新的参数分析技术,实现了高达120MHz的高频测量,从而满足了很多半导体,功能材料和纳米器件的测试需求.
消除不规则输入的自动平均值功能 更强数据处理及内部屏蔽
华测系列阻抗分析仪是华测仪器电子事业部采用当前先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,为国产阻抗测试仪器的新的高度。解决同类仪器,在测量10Hz-50MHz的频率瓶颈;解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷;采用单测和分析两种界面,让测试更简单。得益于先进的自动平衡电桥技术,在10Hz-50MHz的频率范围可以保证0.05%的基本精度。 快达5ms的测试速度及高达50M的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求,特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规端配置的仪器向下扩展了十倍。
专用高频测试线缆,更适合高频测量
测试引线使用4端子对配置以扩展测量端口,附带BNC阳头连接板,用于连接高温炉的测试夹具,同时测试线采用高频测试专用测试线,设计两层屏蔽。更适合高频介电参数测量。
仪器优势:
1、它可以匀速、阶梯(升\降温)、循环冲击,真空、气氛等多种的加热方式。
2、采用全新的移相触发技术,完全可实现控制精度波动±0.25°c 以内,温控精度更高。
3、加热速度更快、更快,同时它可以提供了材料的更多的测试环境。
设备优势
1、高速加热与冷却方式
高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统,增设气体冷却装置,可实现快速冷却。
2、温度高精度控制
近红外镀金聚焦炉和温度控制器的组合使用,可以准确控制样品的温度(远比普通加温方式)。此外,冷却速度和保持在任何温度下可提供高精度。
3、不同环境下的加热与冷却
加热/冷却可用真空、气氛环境、低温(高纯度惰性气体 静态或流动),操作简单,使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/冷却室。
更强的扩展能力,实现一机多用
█ 多功能真空加热 炉,可实现高温、真空、气氛环境下电学测试
█ 采用铂金材料作为测量导线、以减少信号衰减、提高测试精度
█ 设备配置水冷装置,降温速度更快、效率更高
█ 可实现介电温谱、介电频谱等测量功能
█ 进口温度传感器、PID自动温度控制,使测量温度更准确
█ 近红外加热,样品受热更均匀,不存在感应电流,达到JZ测量
█ 10寸进口触摸屏设计,一体化设计机械结构,更加稳定、可靠
█ 采用进口高频测试线,抗干扰能力更强,采集精度更高
█ 99氧化铝陶瓷绝缘,配和铂金电极夹具
█ huace pro 强大的控制分析软件与功能测试平台系统相互兼容
设备测量参数
温度范围: RT-800 (高达1650)°C
样品尺寸:φ<25mm,d<4mm
控温精度:±0.25°C
电极材料:铂金
升温斜率:10°C/min(可设定)
夹具辅助材料:99氧化铝陶瓷
测试频率 : 10Hz~120MHz
绝缘材料:99氧化铝陶瓷
加热方式:近红外加热
测试功能:介电温谱、频谱
冷却方式:水冷
数据传输:4个USB接口
输入电压:110~220V
设备尺寸:600x500x350mm
ε介电常数、(ε'、ε''介电常数实部与虚部)、C电容、(C’、C''电容实部与虚部、D损耗、R电阻、(R'、R''电阻实部与虚部)、Z、(Z'、Z''阻抗实部与虚部)、
Y导纳、Y’、Y''(导纳实部与虚部)、X电抗、Q品质因数、cole-cole图谱、机电耦合系数Kp、等一系列测量参数及介电温谱与频谱等测试功能。
- 硫碳分析仪测试对样品有什么要求
- 透射电镜对样品有什么要求?
- 透射电镜对样品有什么要求?
- 陶瓷材料介电常数测试,在高温下测试对样品有什么要求?
- 高、低温环境下的介电温谱及频谱测量
高、低温介电测量系统用于分析宽频、高、低温环境条件下被测样品的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量,同时还可以分析被测样品随温度、频率、时间、偏压变化的曲线,是专业从事材料介电性能、温度弛豫、电弛豫研究的理想测试工具。用户通过软件可以直接得出介电间、频率、偏压变化的曲线,高温介电测量系统是功能材料测试必备电学性能评估设备。系統搭配Labview系统开发的hcpro软件,具备弹性的自定义功能,可进行频率、温度、时间、测试项等设置,符合材料测试多样化测试的需求。
本系统主要用于材料在不同温度不同频率下的电学性能测试,系统包含高、低温环境、阻抗分析仪、测试夹具,测试软件于一体,可测试材料的介电常数,介质损耗,阻抗谱Co-Co图,机电耦合系数等,同时可分析被测样品随温度,频率,时间变化的曲线,测试治具可以根据产品及测试项目要求选购;,实现了自动完成不同环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外,还可根据用户提供的其他LCR品牌或型号完成定制需求。软件可根据实验方案设计,通过测量C和D值,自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。一次测量,同时输出,测量效率高、数据丰富多样。
- 透射电镜对样品浓度有什么要求?
- 透射电镜对样品浓度有什么要求?
- 测定红外光谱时对样品有什么要求
- 测定红外光谱时对样品有什么要求?
- 红外光谱仪对样品有哪些要求?
- 红外光谱仪对样品有哪些要求?
参与评论
登录后参与评论