在Si的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiO2薄膜，为了测量薄膜厚度，将它的一部分磨成劈形，先用波长为550nm的平行光垂直照射，观察反射光形成的等候干涉条纹，在图中AB段共有6条暗纹，且B处恰好是一条暗纹，求薄膜的厚度！（Si折射率为3.42 SiO2折射率为1.5） ... 在Si的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiO2薄膜，为了测量薄膜厚度，将它的一部分磨成劈形，先用波长为550nm的平行光垂直照射，观察反射光形成的等候干涉条纹，在图中AB段共有6条暗纹，且B处恰好是一条暗纹，求薄膜的厚度！（Si折射率为3.42 SiO2折射率为1.5）
等厚干涉重要的一个结论是相邻条纹间隔永远是半波长
那么此题6个条纹于是7个间隔，6*1.5*550nm=5.775um[micro-meter]。
这题难点在于判断六个条纹到底是几个间隔，也就是说在那个暗纹是否算在那六个之内，取6个或者7个都是可以。
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22335来 
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