线阵探测器，X射线探测器

线阵探测器，DR探测器，非晶硅探测器，CR探测器：
有效成像面积: 8x10" (20x25 cm)
Ø 分辨率 5.2 lp/mm ， 5百万像素
Ø 动态范围: 78dB， 14bit 数字化
Ø 能量范围: 高达 160 kVp.
Ø 接口: 先进的 GigE 接口可连接笔记本电脑或光纤连接台式PC
Ø 电源功耗: <10 W.
Ø 特别适用于移动式放射影像设备
平板探测器是基于CMOS技术，主要内容是：闪烁，传感器和电子控制单元，数据读出并传输到工作站。
新型工业DR检测仪；多种功能检测仪，应用范围 电子工业：BGA和QFN封装的电路板及相似组件，隐藏的虚焊点，多层的电路板 半导体工业: 二极管，贴膜机检测。
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X射线探测器包含有、线阵扫描探测器：使用带状CCD芯片通过执行机构扫描得到图像。平板探测器：采用大规模TFT工艺制作的板型X射线传感器得到图像、CCD探测器：采用专用X射线相机、光路构成的图像采集机构。