透析电子显微镜的原理是什么?

不知你知的是那类电镜，按照分辨率从低到高（不是的）来说，以下几类都可以探测样品表面高度起伏的程度（topography），他们还可以分析样品元素组成，晶格等等，就不一一说了。

扫描电镜（SEM）是在样品表面扫描一束电子，分析这束电子撞击物品表面而发射的二级电子或者俄歇电子，这类反射电子的能量，方向与表面高低有关，所以可以成像。
投射电镜（TEM）的电子束穿透样品后被采集分析，因为样品的晶格（宽泛的说，不论是否晶体）散射电子的情况不同，可以得到样品的形态数据。
原子力显微镜（AFM）探测的是探针针尖与样品表面某处的极微弱作用力，随样品表面的凹凸不平，作用力变化，拉动维系探针的弹簧，引起电流或者角度的变化。
隧道扫描电镜（STM）是利用探针与样品表面及其接近时产生的隧道电流，因为样品表面高度的变化，隧道电流大小发生变化，探测探针的电流变化，就可以知道样品表面凹凸不平的程度。

AFM可用于表面绝缘的样品成像，另三类都比较适合表面导电的样品，。