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薄膜测厚仪
薄膜测厚仪又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等,薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。薄膜测厚仪根据其测量方式的不同,可分为:接触式薄膜测厚仪,非接触式薄膜测厚仪。非接触式薄膜测厚仪的出现,大大提高了纸张等片材厚度测量的精度,尤其是在自动化生产线上,得到广泛应用。
薄膜测厚仪产品
筛选
F20 薄膜厚度测量仪
品牌:美国Filmetrics
型号: F20
塑料薄膜厚度测量仪
品牌:济南三泉中石
型号:CHY-U
精密测厚仪
品牌:沈阳科晶
型号:SKCH-1(A)
反射光谱薄膜测厚仪
品牌:沈阳科晶
型号:TFMS-LD
涂镀层测厚仪
品牌:沈阳科晶
型号:ComBi-D3
薄膜厚度测量系统
品牌:沈阳科晶
型号:TF200
薄膜测厚仪
品牌:沈阳科晶
型号:SGC-10
膜厚监测仪
品牌:沈阳科晶
型号:EQ-TM106
紧凑型高精度反射膜厚仪
品牌:沈阳科晶
型号:TFMS-IV系列
C11295 多点纳米膜厚测量仪
品牌:滨松
型号:C11295
C11011-01W 微米膜厚测量仪
品牌:滨松
型号:C11011-01W
C11627-01 纳米膜厚测量仪系列
品牌:滨松
型号:C11627-01
C12562 纳米膜厚测量仪系列
品牌:滨松
型号:C12562
Filmetrics 薄膜厚度测量系统F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT 系列
品牌:美国Filmetrics
型号:F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT 系列
卓立汉光 显微分光膜厚仪OPTM 系列
品牌:卓立汉光
型号:OPTM 系列
F20 薄膜厚度测量仪
品牌:美国Filmetrics
型号: F20
F54 薄膜厚度测量仪
品牌:美国Filmetrics
型号: F54
F50 光学膜厚测量仪
品牌:美国Filmetrics
型号:F50
F10-AR 薄膜厚度测量仪
品牌:美国Filmetrics
型号:F10-AR
微米膜厚测量仪 C11011-21W
品牌:日本滨松
型号:C11011-21W
微米膜厚测量仪 C11011-21
品牌:日本滨松
型号:C11011-21
光学NanoGauge C10178-03E
品牌:日本滨松
型号:C10178-03E
光学NanoGauge C10178-03J
品牌:日本滨松
型号:C10178-03J
光学NanoGauge C10178-02
品牌:日本滨松
型号:C10178-02
光学NanoGauge C12562-04
品牌:日本滨松
型号:C12562-04
光学NanoGauge C13027-12
品牌:日本滨松
型号:C13027-12
多点纳米膜厚测量仪 C11295
品牌:日本滨松
型号:C11295
微米膜厚测量仪 C11011-01W
品牌:日本滨松
型号:C11011-01W
微米膜厚测量仪 C11011-01
品牌:日本滨松
型号:C11011-01
孔洞检测单元 C11740
品牌:日本滨松
型号:C11740
孔洞检测单元 C12570 series
品牌:日本滨松
型号:C12570 series
扁平准分子灯EX-400 L11751-01
品牌:日本滨松
型号:L11751-01
扁平准分子灯EX-86U L13129
品牌:日本滨松
型号:L13129
扁平准分子灯EX-mini L12530-01
品牌:日本滨松
型号:L12530-01
C11665-01 微米膜厚测量仪
品牌:滨松
型号:C11665-01
C10178-01 纳米膜厚测量仪系列
品牌:滨松
型号:C10178-01
F60-t 薄膜厚度测量仪
品牌:美国Filmetrics
型号:F60-t
Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
品牌:美国Filmetrics
型号: F3-sX
反射膜厚仪RM 1000/2000
品牌:德国Sentech
型号:RM 1000/2000
光学NanoGauge C10323-02
品牌:日本滨松
型号:C10323-02
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