LS225+N1500涡流测厚仪

　LS225+N1500涡流测厚仪是一款便携式分体式的涡流测厚仪，由主机LS225和非铁基探头N1500组成。仪器采用涡流感应原理，具有超高的测量精度和重复性，配上探针式的测头设计，特别适用于测量超薄涂层及氧化膜的各种小尺寸工件、异型材料。LS225+N1500涡流测厚仪可用于生产检验、施工验收以及销售展览现场对非磁性金属基材上的非导电涂层厚度进行快速无损的测量，可应用于航空工业、建材、机械、化工、轻工和仪表等行业。

　　LS225+N1500涡流测厚仪产品参数如下：

　　测量原理         涡流感应

　　基体材料         非铁磁性金属

　　测量范围         0.0-1500μm

　　分辨率     0.1μm:（0μm - 99.9μm）

　　1μm:（100μm - 999μm）

　　0.01mm:（1.00mm – 1.50mm）

　　重复性     ≤±（0.8%读数+0.1μm）手压测试机架测试

　　测量精度         ±（2%读数+0.3μm）五点校准

　　单位         μm/mil

　　测量间隔         0.8s

　　最小测量区域         Ø=7mm

　　最小曲率半径         凸面1.5mm，凹面10mm

　　最小基体厚度         0.05mm

　　用户校准         支持零点校准，1点到5点校准

　　探头尺寸         长110mm×直径15mm（不包括连线）

　　探头重量（含电池）     81g

　　LS225+N1500涡流测厚仪产品特点：

　　1.支持调零和多点校准确保数据更加，配备专门的调零板和标准片。

　　2.具备数据统计功能，自动统计最近9组数据的值，值，平均值和方差值。

　　3.具有超宽量程0-1500μm，测量单位μm和mil可切换。

　　4.选购专用的手压测试机架能消除人为因素造成的误差，数据重复性可达0.1μm。