徕卡三离子束切割仪-Leica EM TIC 3X

徕卡三离子束切割仪-Leica EM TIC 3X概述

Leica EM TIC 3X 通过离子枪激发获得的离子束，以垂直于样品侧面纵向轰击样品，可获得高质量无应力“切割”截面，便于SEM观察。该处理方法适用于多层膜材料、软硬复合材料等高难度制备样品，并且操作简单，可有效避免涂抹效应，不需要大量摸索条件即可获得理想的截面，使样品暴露内部细微结构信息。

徕卡三离子束切割仪-Leica EM TIC 3X性能

• • 优级性能：特殊的三离子束系统，可获得优异的截面处理质量，并可获得宽且深的切割区域，大大降低工作时间。并可实现在一次处理过程中可处理3个样品。因此对有高通量需求的实验室，徕卡EM TIC 3X是优选解决方案

• • 样品托：多种多样的样品托，适合于各类尺寸样品

• • 可装配系统：根据样品制备需要，可以有针对性地在徕卡EM TIC 3X上装配一 体化设计样品台——标准样品台、多样品台或冷冻样品台

• • 样品TOPO结构清晰可见：除了剖面切割，使用同一样品托还可对样品进行清洁及加强衬度的功能

• • 冷冻样品台：针对温度敏感型样品如橡胶或水溶性高分子聚合纤维等，可以使用冷冻样品台对样品进行低温下处理，获得高质量处理结果。样品托和挡板的温度都可达到-150℃

徕卡三离子束切割仪-Leica EM TIC 3X技术参数