J200飞秒激光剥蚀进样系统（LA）

J200飞秒激光剥蚀进样系统（LA）术可靠性提升到一个新高度，可应用于矿物元素定量分析、锆石U-Pb定年、矿物熔体和流体包裹体分析、微区同位素分析和定年技术研究等地质研究领域，并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀，这一创新的传感器特性是由应用光谱公司科学团队研发的一项技术，具备三种照明模式来提高图像质量和对比度：扩散式LED光源，透射光和同轴反射光，光的强度和颜色可控。

采样模式优势：

系统软件提供大的视频窗口，显示清晰的、详细的样品图像。分析人员可以在样品图像上设计任意的激光采样模式，包括光栅线、曲线、直线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式。甚至样品上具有挑战性形状的结构也可以使用Axiom的模式生成工具进行突出显示，并精确分析元素或同位素含量。

设备优势：

1、J200飞秒激光进样系统可与市面上的普通四级杆质谱仪；

2、飞秒激光源技术已经应用于医疗领域；

3、组装方式简单，方便对输气管道进行定期清理；

4、主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度剖析、元素映射，等等。

J200飞秒激光剥蚀进样系统（LA）具有直观友好的图形用户界面，可浏览不同样品区域，并建立灵活的激光采样方案，甚至样品上具有挑战性形状的结构也可以使用Axiom的模式生成工具进行突出显示，并精确分析元素或同位素含量，然后使用保存的图像导航不同的样品位置，观察高倍放大的选定点，以提供高度自动化的检测体验。我们只需“调出”整个方案以重复实验，或者复制方案的一部分，将其与新的指令结合起来，以解决新的采样方案。