LTS120E-P探针台

        探针台主要为电性测量而设计。针尖镀金的探针可以连接在热台腔室内部的电极上，针座可以移动，保证针尖可以接触到热台上的任何一个区域。探针压在样品上的力度可以通过弹簧调整。
        两种型号的探针台可以选择。LTS120-P主要为半导体器件的电性测量而设计。

参数：

温度范围：-40℃到120℃

温度精度/稳定性：0.1℃/<0.1℃

光孔直径： 2.5mm

样品区域面积： 40 mm x 40 mm

4个样品探针，2个LEMO接头（BNC接头可以提供）

加热速率：0.1-50℃/min

超薄热台窗口：0.17mm

物镜/聚光镜工作距离： 8.2/12.5mm

气密样品腔室,可充入保护性气体

滑动上盖易于样品导入

独立温度控制