SOPTOP XD30M三目倒置金相显微镜 切片分析显微镜

采用先进的无限远色差校正光学系统，可提供更加清晰的像质和分辨率，宽阔平坦的观察空间，可加装同轴低手位调节移动尺及载物台延伸版，拓展应用领域，满足不同需求客户使用