美国GP PDL/IL多功能测试仪PDL-201

        General Photonics公司的PDL/IL测试仪(PDL-201)采用大值/小值搜寻法(符合TIA/EIA-455-198标准)，能够对器件的偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)、光功率进行快速测量，测量速度0.2s。该测试仪工作波长覆盖1260～1620nm，在高、低PDL和SOP的情况下都能得到**的测量结果。该测试仪拥有RS-232、USB 及以太网接口，可以方便地与计算机连接，进行远程控制和数据传输，是**、快速测量无源器件、DWDM 器件的理想仪器。

主要应用：

1、偏振相关损耗(PDL)的测量

2、插入损耗(IL)的测量

3、器件特性监测