比表面积测定仪样品处理加热包

由于比表面积和孔隙度的测定与颗粒的外表面密切相关，且吸附法测定的关键是吸附质气体分子“有效地”吸附在被测颗粒的表面或填充在其孔隙中，因此样品颗粒表面“洁净”与否至关重要。样品处理的目的主要是为了让样品颗粒表面吸附的杂质尽可能地被释放出来，以便测试过程中有利于吸附质分子的表面吸附。一般的样品测定前都需进行预处理，处理方法依测定的样品特性不同而变化。为更好服务于我们的客户，我公司专门研制了F-Sorb和V-Sorb样品处理机，供客户根据需要选配。该产品与F-Sorb X400系列比表面积测定仪和V-Sorb X800系列比表面及孔径分析仪配套使用，也可用于需进行样品前期处理的其它用途。产品功能齐全，性能稳定，是理想的样品加热、真空处理及空气隔离保护装置。

一、适用范围

1、比表面积及孔隙度分析测试的样品预处理，可配合国内外不同型式的样品管；

2、可取代真空烘箱，进行颗粒状样品的少量快速处理；

3、需对颗粒类样品进行加热、抽真空脱气、气氛保护及吹扫处理的场合。

二、主要功能

1、针对不同样品处理要求，可灵活选择25℃至350℃间任意温度对样品进行加热处理，可去除样品中的水份，实现烘干功能；

2、在样品加热处理过程中，可选择对处理系统抽真空，真空处理能有效去除样品颗粒表面吸附的杂质，实现对多孔材料的更洁净处理；

3、对不宜与空气接触的样品，可根据需要选择在处理过程中通入氦气、氮气等保护气氛，实现样品与空气的完全隔绝；

4、样品处理完成后的冷却过程中通入保护气氛，实现对处理后样品的隔离保护；

5、对于颗粒表面水份及杂质较多的样品，可通过通入保护气氛，利用气流带动作用，实现对样品表面的吹扫功能，有利于杂质和水份的更快更彻底去除。