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企业性质
入驻年限第10年
Jandel这种组合方式是目前jandel公司的产品.
该系统可用于测量各种薄层的小尺寸样本以及直径300mm高250mm的晶圆锭 (检测厚样品之前要咨询)。
| 可测晶片直径 | D≤250mm（可选配D≤300mm，无需付费） | |
| 可测晶片厚度 | H≤250mm（可更厚，请咨询） | |
| 微动开关 | 防止探针不与样品接触时的电流流动 | |
| 手动控制 | 探针接触和移动的简单杠杆操作 | |
| 装配简单 | RM300和四探针探头通过单线连接 | |
| 系统配置 | 组成部件 | 测试台----1个 可调节高度主机----1台 可调节高度轴杆----1根 四探针探头----1个 连接电缆----1根 |
| 设备尺寸 | 可调节高度测试台：W*L*H（mm）250*290*8（320*370*8，可选） 可调节高度探头组件：W*L*H（mm）60*280*80（60*330*80，可选） 可调节高度的轴杆：D（mm）19；L（mm）200（可定制最高高度到1000mm） | |
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