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企业性质
入驻年限第10年
Jandel工程有限公司提供了可调节高度探针台的自动Z运动（AFPP）用于进行四点探针测量。AFPP可以用于测量各种各样的小样本大小薄层和300mm晶圆锭250mm高（厚的样品安置在请求）。可以使用AFPP独立提供的电源适配器，或者可以动力和由JandelRM3000使用单一铅连接这两个工具之间。
技术参数：
可测晶片直径 | 直径d≤300mm |
| 可测晶片厚度 | 高度h≤250mm |
| 自动停机 | 具有接触到样品的传感器（通过传感器检测接触到样品） |
| 手动控制 | |
| 远程控制 | Jandel-RM300能够提供电源和样品接触 |
系统配置：
| 组成部件 | 测试台----1个 AFPP主机----1个 可调节高度的轴杆----1根 四探针探头----1个 |
| 设备尺寸 | 可调节高度测试台：W×L×H（mm）320×370×8AFPP 主机：W×L×H（mm）64×215×67 可调节高度轴杆：d（mm）19；L（mm）200（可定制最高额高度到1000mm) |
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