瑞典XCounter XC-FLITE X系列 X射线设备

产品描述X 系列
XC-FLITE X1、X2、X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
 
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式，扫描速度最高90mm/s。
 
引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE X系列产品的先进之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。  
 
所有精心设计的运动部件需要在XC-FLITE X系列的内部自动控制，整个扫描过程是透明可见的。
 
集成
XC-FLITE X系列，通过GigE接口将XC-FLITE X系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系统平台
 
应用
*小范围辐照   
*小动物成像
*实验室样品和标本成像    
*工业检测（NDT）
 
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*自扫描设计，透明可见
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*扫描速度最高90mm/s
*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
 
技术参数单
基本参数