企业性质授权代理商
入驻年限第9年
产品描述:PDT25-DE
紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,PDT25-DE是一个小视场探测器,适用于潜在宽泛的能量范围。
PDT25-DE可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式。
引进反符合技术的双能采集功能,是PDT25-DE先进之处,在双能采集过程中,探测到的光子能量分别设置为两个独立的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为医疗和工业新成像技术开启了大门。采用反符合技术,可以确保将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。
集成
通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有PDT25-DE的功能;可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系统平台上。
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*反向散射成像
*工业检测(NDT)
特点和优势
*CdTe-CMOS传感器,高品质成像
*双能采集,具有材料区分能力
*反符合技术,卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
*兼容Windows操作系统,从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
技术参数
物理参数 | ||
尺寸 (L×W×H) | 94×54×20mm | |
重量 | 150g(235g 带钨防护) | |
温度控制 | 内部的珀尔帖效应温度控制 | |
环境温度 | +15 - +45℃ | |
储藏温度 | -10 - +50℃ @ 10% -95% 湿度 | |
最大消耗功率 | 10W | |
射线窗 | 碳纤维, 厚250μm | |
射线屏蔽 | 根据应用 | |
传感器 | ||
传感器类型 | 双能光子计数 CdTe-CMOS | |
传感器厚度 | 0.75mm-2.0mm CdTe | |
有效面积 | 25.6×25.6 mm2 | |
像素 | 100μm | |
像素填充率 | 100% | |
性能 | ||
帧率 | 最高35fps | |
动态范围 | 12 bits | |
成像时间 | 100μs-5s (通过软件,可以设置更长时间) | |
DQE(0) | 85%@RQA5 spectra | |
MTF | >80% @ 2lp/mm | |
管KV范围 | 15-140 kVp | |
内部测试图样 | Pseudo-random debug pattern | |
外部触发输出 | 3-3 V TTL | |
输入 | 3-15V | |
滞后 | 0% | |
拖影 | <0.1% X射线开启后1分钟(12μGy) |