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入驻年限第9年
瑞典XCounter 双能探测器
产品描述 FX系列
XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。
引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE FX系列产品的先进之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。
集成
XC-FLITE FX系列，通过GigE接口将XC-FLITE FX系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE FX的功能；可用在Windows XP、Vista、Windows7和Windows8系统平台
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*工业检测（NDT）
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
基本参数
物理参数 | ||
尺寸 （L×W×H） | XC-FLITE FX1：23.1×13.1×6.0 cm | |
温度控制 | 内部的珀尔帖效应温度控制 | |
环境温度 | +10 - +40℃ | |
储藏温度 | -10-+60℃ @ 10% to 95% 湿度 | |
射线窗 | 碳纤维， 厚500μm | |
射线屏蔽 | 根据应用 | |
传感器 | ||
传感器数量 | FX1：1 FX2：2 FX3：3 | |
传感器类型 | 双能光子计数 CdTe-CMOS | |
传感器厚度 | 0.75mm-2.0mm CdTe | |
有效面积 | FX1：154.7×12.8mm (1536×128像素) | |
像素 | 100μm | |
像素填充率 | 100% | |
性能 | ||
帧率 | 最高1000 fps（也可选择时间延迟求和模式） | |
动态范围 | 12 bits | |
图像面元 | 1×1，2×2，4×4 | |
成像时间 | 100μs-5s | |
DQE（0） | 85%@RQA5 spectra | |
MTF | ＞80% @ 2lp/mm | |
管KV范围 | 15-250kVp | |
内部测试图样 | Pseudo-random debug pattern | |
外部触发输出 | 3.3V TTL | |
输入 | 5V | |
滞后 | 0% | |
拖影 | ＜0.1% X射线开启后1分钟，（12μGy） |
分辨率和DQE曲线 （反符合开CC on和闭CC off）
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