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扫描探针显微镜SPM 原子力显微镜AFM 纳米级表面形貌粗糙观测 CSPM5500

上海众濒科技有限公司

企业性质生产商

入驻年限第5年

营业执照已审核
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扫描探针显微镜SPM 原子力显微镜AFM 纳米级表面形貌粗糙观测 CSPM5500 核心参数
仪器分类: AFM
STM: 恒流模式,恒高模式,I-V曲线,I-Z曲线等
AFM: 接触,轻敲,相移成像等模式
空间分辨率: 4096*4096
样品尺寸: 45*45*30mm
样品台移动范围: 30mm