Rtec UP 台阶仪

美国Rtec双模式台阶仪
特点：一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜

白光干涉

白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描，对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。

**的技术来实现高Z向分辨率

白光干涉法和相移两种模式实现Z方向的高分辨率。
快速图像处理系统达到400万像素
四色LED相机

更大的垂直测量范围达10毫米

150 mmx150mm马达控制平台。

样品粗糙度，粗糙表面高度抛光后的光洁度以及表面结构测量，如陶瓷、塑料和辊钢。

SPIP专业数据分析软件

原子力显微镜

探针式轮廓测量能够进行材料在纳米尺度水平的测试。提供扫描范围70 x70um，探针更换简单。

**的技术来实现Z和XY方向上的高分辨率

X,Y和Z方向上纳米级的分辨率和精度。
线性XY压电陶瓷扫描

包括振动和不振动的模式

可选的侧向力和相位模成像