上照射式 X射线荧光光谱仪PrimusII

上照射式 X射线荧光光谱仪PrimusII是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法，不设定测试成分也能准确分析，流程条,按顺序显示测试处理内容，标准样品，操作手册全中文提供方便用户PAS自动调整,芯线自动清洗，给用户带来方便，适合少量样品分析，软件在原有的SQX软件基础上进一步完善，采用对话方式，进行EZ扫描，应用模板可将各种测试条件，以及前处理顺序设置其中，FP无标样分析。

粉末附件 ：

电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 真空泵内。

双泵、双真空系统 ：

采用双真空系统（样品室/预抽真空室）。 

防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 的结构设计，样品交换实现更高效率。

技术参数：

硬件： 

对应超轻元素的X射线光管 

采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 

采用新型光学系统 

采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。 

流程条：

测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。

散射线FP法：

不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。

应用模板：

各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 

定点分析 ：

100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像 上指定点、区域、线。定点直径500μm。 

主要特点： 

1、轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高；

2、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75；

3、重金属的高灵敏度分析-采用型光学系统； 

4、高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm；

5、优良的无标样分析的SQX软件；

6、仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间。

应用软件包： 

1、设定样品（标准样品、漂移校正样品）。

2、CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。

其它特点的软件功能：

1、SQX分析功能；

2、Mapping数据库； 

3、材质辨别；

4、理论重叠校正； 

5、自动程序运转； 

6、校正投入量计算。

上照射式 X射线荧光光谱仪PrimusII因采用了新型分光晶体，使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高，超轻元素对应X射线光管，大功率4千瓦，薄窗,适合轻元素分析 48样品台，节省空间.1次滤波片，可去掉来自光管的特征谱线,减低背景，双真空，双泵设计，节省抽真空时间，防粉尘附件，可防止粉末掉入真空泵，微区分析可达500。