企业性质
入驻年限第10年
仪器简介：
测量薄膜或片状材料的厚度均匀性 附件： 台式支座 样品砧 标准测头 可选配重使样品的压力达到要求
可选测量V型缺口深度刀头.
技术参数：
4位数字显示器 测量速度3m/sec 测量施力：20g+ -0.2 手动置零装置 串行输出口用于连接打印机
主要特点：
测量薄膜或片状材料的厚度均匀性 分辨率可至0.001mm,测厚范围为12.5mm或25mm
可测量V型缺口深度.
选购仪器 上yiqi.com
仪器网络推广品牌网上传播
长按识别二维码查看信息详情