JASCO V-7000系列紫外可见近红外分光光度计

品牌：日本分光
型号：V-7000
产地：日本
供应商报价：面议
产品分类：紫外可见光谱仪/紫外可见分光光度计

沈阳佳士科商贸有限公司

企业性质

入驻年限第9年

营业执照

同类产品

详细介绍
相关产品
您可能感兴趣的产品

详细介绍

概要

V-7000系列能研究看不见的世界紫外可见近赤外分光光度。

采用双单色器,把光学系统和电气系统相结合,实现世界*** 的性能,强有力地支撑光学材料以及光设备的分光特性评价和薄膜的膜厚测量。

根据用途有3种型号可以选择。V-7100,紫外可视区域专用的型号,V-7200采用在近赤外出器PbS光导电元件,测量范围可至3300nm的广波长型号,V-7300是在近赤外出器采用InGaAs光电二极管的近赤外域高信噪比型号。

特征

?双单色器的高端型号

?根据测量波长范围和灵敏度不同有3种型号供选择

?实现世界yi流的测量范围+/-8.0Abs

?采用超低杂散光设计

?实现波长分解0.049nm的高分辨率(紫外可视区域)

?采用日本分光的光分析装置软件JASCO光谱管理器可轻松实现由电脑控制

◆专用附件

反射率定装置

能自动测量各种固体样品的偏角。适应半导体,薄膜,胶卷,光学元件,光设备的分光特殊性评价以及膜厚测量。

小型积分球
用于粉末样品,悬浮液,有凹凸的固体表面的漫反射测量。

◆规格

V-7100/7200/7300

型号	7100	7200	7300
光学系	立体配置Littrow型接口双单色器双光束方式
光源	氘灯卤钨灯　水银光源（校正用）
波长范围	185～900nm	185～3300nm	185～1800nm
分辨率	0.049nm以下（UV/VIS）	0.049nm以下（UV/VIS） 0.2nm以下（NIR）	0.049nm以下（UV/VIS） 0.1nm以下（NIR）
波正さ	±0.08nm（190～800nm）	±0.08nm（190～800nm） ±0.40nm（800～3000nm)	±0.08nm（190～800nm） ±0.20nm（800～1700nm）
测光范围	+/－8.0Abs
光源（选项）	高辉度陶瓷光源卤素灯、水冷式高水银光源
测光精度	0.00028Abs（0.3Abs,UV/VIS）使用双光圈
基线稳定性	0.0002Abs/Hr以下
基线平坦性	±0.0012Abs（200～850nm）	±0.0012Abs（200～3000nm）	±0.0012Abs（200～1700nm）
杂散光	0.00007%以下220nm （10g/L NaI ASTM） 0.00007%以下370nm （50g/L NaNO2）	0.00007%以下220nm （10g/L NaI ASTM） 0.00007%以下370nm （50g/L NaNO2） 0.0003%以下1420nm H2O光路长1cm） 0.00048%以下2365nm （CHCl3光路长1cm）	0.00007%以下220nm （10g/L NaI ASTM） 0.00007%以下370nm （50g/L NaNO2） 0.00005%以下1420nm （H2O光路长1cm）
检测器	光电子倍管	光电子倍管冷却型PbS光导电素子	光电子倍管冷却型InGaAs光电二极管
定量测定	1,2,3波长演算、检量线：一次、二次、三次式、比例、折线 Logistic函数、样条函数
测定光谱	测光方式：Abs,%T,%R数据处理功能：检测波峰，波峰高度（比）波峰面积（比）、半值宽、追迹、放大、微分、平滑度、Abs/%T/%R变换 K-M变换、K-K变换、四则演算、基线补正、差光谱、除去不要波峰去卷积、FFT滤光片、除去数据补间、横轴变换：cm-1,μm,eV,nm
测定时间变化	测光方式：Abs,%T,%R、数据处理功能：动力学、追迹、
测定固定波长	可最多同时测量8个波长
程序	JASCO光谱管理器
表示	日本语
尺寸?重量	1020（W）×710（D）×380（H）mm 91kg