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自jasco,自动反射率测量系统ARMV734/735

沈阳佳士科商贸有限公司

企业性质

入驻年限第9年

营业执照
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概要

  自动反射率测量装置一边变化照到样品的入射角,一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件,半导体,薄膜,光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定,受光角通过滑动积分球控制。另外,能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且,根据任意设定P偏光和S偏光角度,能研究样品的偏光特性。

可选择用在紧凑的中型机种V-600系列紫外可见近红外分光光度上,也可以选择用在适合高分辨率,高吸光度测量的V-7000系列紫外可见近红外分光光度计上。

装置特点

?PC直接控制设定角度及光谱测量等条件
?测量范围广,从紫外到近红外区域
?双光束光学系统,测光稳定性好
?可分别控制入射角、受光角
?标配偏光测量功能
?专用的样品池支架,样品的装卸简单

规格

ARMV-734/ARMN-735 自动反射测量组件V-600用)

型号

ARMV-734

ARMN-735

测定波长范围

250850nm

2502000nm

测量方式

测量反射率、测量

入射角

60°(测量反射率)、 60°(测量) 0 ~ 85(大入射角样品支架选项)

角度间隔

0.1°间隔

设定方式

同期、非同期(入射部和受光部)

测量偏光

S 偏光( 0°)P 偏光( 90°)N 偏光( 45°)、任意设定

ARMV-734用于V-650,660ARMN-735用于V-670


VAR-7010/7020/7030 自动反射测量组件V-7000用)

型号

VAR-7010

VAR-7020

VAR-7030

测量波长范围

250900nm

2502000nm

2501800nm

测定方式

测量反射率测量透过率

入射角

60°(测量反射率)、 60°(测量透过) 0 ~ 85(大入射角样品支架选项)

角度隔

0.1°间隔

设定方式

同期、非同期(入射部和受光部)

测量偏光

S 偏光( 0°)P 偏光( 90°)N 偏光( 45°)

VAR-7010用于V-7100VAR-7020用于V-7200 VAR-7030用于V-7300