磁悬浮吸附、解析分析仪

XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用，也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及卓越的称量精度和稳定性。

• XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技术，可在高温、高压条件下进行重量吸附分析，也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。

产品特点

• 外部感知技术，把敏感元件置于天平室外部，允许腐蚀性和易燃气体的操作
• 几何对称、精密设计的微量天平
• 内部容积最小化
• 大容量微量天平（5克），分辨率0.2μg和长期稳定性±5μg
• 宽动态称量范围（0-200毫克）
• 操作压力高达200bar
• 单独的反应器可进行从77 K到773 K的全温度范围测量
• 无需重新归零或原位校准
• 采用IGA特有的终点预测方法
• 全金属结构由高品质的VCR装配
• 模块化设计，与所有配件兼容且可升级

产品应用
XEMIS的应用领域:

• 气体吸附分析
• 等温线的测定
• 动力学分析
• 热力学研究
• 储氢
• 甲烷存储
• 二氧化碳封存
• 气体的分离与纯化
• 超临界气体吸附
• 页岩气和煤层沼气研究
• 离子液体中的气体溶解度测量
• 化学吸附研究
• 化学反应的研究 (例如 氧化/氮化)
• 金属有机骨架(MOFs)/多孔配位框架
• 活性炭、碳分子筛和模板碳
• 沸石和沸石类物质
• 多孔聚合物

该XEMIS可广泛应用于不同的吸附气体。如有具体要求请与我们联系。