Elite一六仪器X荧光光谱分析仪

性能优势：

下照式设计：快速方便的定位各种形状的样品，满足一切测试所需。

无损变焦检测：拥有手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm。

最小光斑扩散度＜10%，最小测量面积可达0.002mm²

可检测复杂异形件，凹槽件，凹槽深度可达0-30mm

多镀层，重复镀层的快速检测（Ni/Cu/Ni）

技术参数：

测量元素范围：CI(17)-U(92)

涂镀层分析范围：Li(3)-U(92)

X射线装置：升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦加强型射线管

接收器：日本东芝正比计数管，窗口面积≥150mm²

射线准直系统：垂直光路交换装置搭配黄金准直器

滤光片：铝、空、镍

准直器：ø0.05mm；ø0.1mm；ø0.2mm；ø0.5mm；四准直器自由切换

最近测距光斑扩散度：10%

最小测量面积：约0.002mm²

测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异形样品，变焦距离0-30mm

样品观察：1/2.5彩色CCD，全局快门，有效像素：1280*960，变焦功能

放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍

样品台尺寸：500mm*360mm

样品可放置区域：480mm*320mm*205mm（C型开槽设计，特殊测试时可以超出区域放置样品）

外部尺寸：540mm*430mm*475mm

移动方式：高精密XY手动滑轨

可移动范围：40mm*50mm

电源：交流220V 50HZ  

环境要求：使用时温度：10℃-40℃ 存储和运输时温度：0℃-50℃ 空气相对湿度：≤80%

重量：约45KG

随机标准片：十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu

其他附件：电脑一套、喷墨打印机、附件箱