JXA-8530F PLUS 场发射电子探针显发析仪

企业性质生产商

入驻年限第6年

营业执照已审核

详细介绍

JXA-8530F PLUS 场发射电子探针显发析仪

可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。

产品规格：

检测元素范围	WDS：(Be)*1 /B～U, EDS：B～U
X射线检测范围	WDS检测的波长范围: 0.087～9.3nm, EDS EDS检测的能量范围: 20keV
分光谱仪数量	WDS: 1～5道可选、EDS: 1台
最大样品尺寸	100mm × 100mm × 50mm（H）
加速电压	0～30kV（以0.1 kV为步长）
束流电流范围	10-12 ～ 10-5 A
束流电流稳定度	5%/h, ±0.3%/12h（W）
二次电子分辨率	6nm（W）, 5nm（LaB6）*2 （W.D. 11mm, 30kV）
扫描倍率	×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm）
扫描图像分辨率	最大 5,120× 3,840
彩色显示器	EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024 SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024
光学显微镜
分辨率	～1um
焦深	1um
真空系统	机械泵、分子泵、离子泵 *2
真空度	样品室: 优于8.0 x 10-4Pa, 电子枪: 优于9.0 x 10-5Pa

产品特点：

· 可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。

· 日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是下一代能完全满足多种需求的QL分析工具之一。

· EPMA快速启动

· 点击任何一点，就能开始预设的EDS定性、定量分析或WDS分析。

· 用户菜单（User recipes）

· 能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条件，菜单中包括了全部的电子光学参数、EDS和WDS参数在内。

· EDS 的性能

· 数字化脉冲处理器

· 全谱面分布(WD/ED, 样品台和电子束扫描)

· 无风扇SDD (选配)