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无液氦低温STM/qPlusAFM系统

QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

企业性质生产商

入驻年限第6年

营业执照已审核
同类产品表面成像(42件)
无液氦低温STM/qPlusAFM系统 核心参数
仪器分类: AFM

产品特点:
无需任何液氦,样品和探针始终处于相同温度;
-  全温区范围实现STM原子级分辨图像;在制冷机运行状态下,噪音水平低于1pm;
-  工作模式有STM和AFM-qPlus,具有强大的谱图采集和分析能力;自带PLL和Lock-in,实现I-V,dI/dV以及dI2/dV2谱线采集和谱图成像;
-  样品架灵活配置:样品尺寸10x10mm,可外接4个电路;
-  仅需日常用电,运行和维护成本极低。彻底摆脱低温STM实验受液氦供应制约的烦恼。不再需要掌握复杂的液氦操作和安全知识,连续不间断地进行低温STM实验研究。
-  适用于与UFO腔体/MBE/PLD/LEED/APERS等仪器实现真空联用

 

基本参数:
-  温度范围 9K-400K;
            -  XY方向漂移: 0.2Å/hour,Z方向漂移: 0.2Å/day;
            -  XYZ方向粗位移范围:5x5x8mm@RT
            -  极大扫描范围:
   8x8x1.5um@RT;2x2x0.5um@10K;
-  垂直样品方向5T磁场或垂直-平行样品方向5T-1T矢量磁场


应用领域:

♦  二维材料,纳米科学,表面物理化学等;
♦  STM:导电样品形貌、电学性能(电导、电子态密度、能带、轨道)、磁学性能(近藤效应、自旋反转)、化学键振动表征,原子或分子操纵,纳米结构的建造
♦  AFM:导电或不导电样品形貌表征,力学性能,电荷分布(局部接触势) 
测试数据展示:

 


 
In掺杂Bi2Se3原子分辨STM图像@15KSi(111)表面原子分辨STM图像@15K


Si(111)表面dI/dV(微分电导) mapping

 

部分应用案例:

 


案例1:  Oregon University的George  Nazin教授利用扫描隧道显微(STM)和扫描隧道谱学(STS)技术研究了吸附在Au(111)表面上的烷基取代噻吩低聚物的构象和电子结构,发现Au(111)表面反应活性的局部变化可以导致分子轨道能级的明显变化(上图,DOI: 10.1021/acsami.5b03516)。这些结果表明,界面分子的构象和电子结构可能与基于块状噻吩晶体的能带结构而预期的性能有很大的不同。

案例2:  荷兰Leiden University的Marc T. M. Koper教授通过原子分辨的STM图像发现了两条由水分子组成的平行线沿Pt(111)台阶边缘排布(右图,DOI: 10.1103/
PhysRevLett.116.136101),并验证了Pt(111)的模板作用,确认形成了双链水的结构。这些结果突出表明了Pt表面电子波纹对吸附在其表面的水结构的巨大影响。 
部分用户列表(排名不分先后)
   
  RHK公司PanScan Freedom产品以其技术duchuang性和稳定性、极高的精度和良好的用户体验得到了国内外众多科学家的认可和青睐,在全球范围内已有超过了20位用户。RHK公司的产品在国内也得到了表面科学、低温、真空等研究领域著 名科学家和研究组的欢迎......

 

复旦大学
中科院物理研究所天津大学
香港理工大学Harvard University
Standard Linear Accelerator Center (SLAC), USAPrinceton University, USA
University of Oregonpasting,USALeiden University, Nertherland
 ......
用户发表的文章:
 

1. Lee E. Korshoj et al. Nature comm. 8:14231, 2017.
2. Benjamen N. Taber et al. ACS Appl. Mater. Interfaces 2015, 7, 15138−15142.
3. Dmitry A. Kislitsyn et al.J. Phys. Chem. C 2015, 119, 26959−26967.
4. Christian F. Gervasi et al.Nanoscale, 2015, 7, 19732–19742.
5. Manuel J. Kolb et al.PRL 116, 136101 (2016).
6. J. Derouin et al.Surface Science 641 (2015) L1–L4.
7. Jason D. Hackley et al.REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 85, 103704 (2014).
8. Dmitry A. Kislitsyn et al.J. Phys. Chem. Lett. 2016, 7,1047−1054.
9. D. A. Kislitsyn et al.Phys. Chem. Chem. Phys., 2016, 18, 4842--4849.
10. Dmitry A. Kislitsyn et al.J. Phys. Chem. Lett. 2014, 5, 3701−3707
11. Jonathan Derouin et al.ACS Catal. 2016, 6, 4640−4646.
12. Dmitry A. Kislitsyn et al.J. Phys. Chem. Lett. 2014, 5, 3138−3143. 


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