metrolux squarelux M2光束质量分析仪

光束质量分析仪是用于脉冲和连续激光的光束质量、发散角、光腰大小和光腰位置的快速、精确测量。

• 双CCD配置结合软件用于细调校准;

• 激光校准附件，使得待测激光的校准、调节变得极为便捷；

• 测量精度高达±3%（@ M2=1.1）；

• 通过TCP/IP整合到生产过程；

• 校准调节完成后，M2测量频率高达5Hz，可用于在线测量，以实时调节你的激光器以致达到理想的光束质量；

• 高达10Khz激光的单个脉冲的M2测量；

• 选用相关配件可以分析大直径和高功率激光束;

• 工作波段可覆盖紫外到近红外;

该M2测量仪设计用于激光束的M2值得精确测量，由于其评估的高准确性广泛应用于工业、激光生产和控制，远程控制的可选功能使得揉合到生产过程变得简单，M2测量仪包括基于CCD探测器，并结合优化含M2工具的Square lux或者BeamluxⅡ分析软件，所有相关的激光参数例如M2、发散角、束腰直径和位置都可以测量。选用相关配件可以分析大直径和高功率激光束。

ISO M2测量仪是一款小巧、快速的探测系统，可以自动测定激光束质量。机械和以软件为基础的工具允许快速建立和开始测量，30秒可以获得测量结果。

NIR/VIS M2测量系统可以根据当前EN-ISO 11146标准测量，使用相应的可选配件，运行在UV、VIS、NIR波长范围的大部分激光都可以得到分析。

光束质量分析仪作为实验室常规的激光分析设备，对于操作人员来说，最重要的是待测激光的调节、校准的便捷性和测量的准确性、高效性。

Metrolux公司生产的光束质量分析仪无疑都具有以上描述的优点。

便捷激光调节校准

配备用于粗校准的校准工具，其中校准工具包含了可移动两个反射镜、可移动光阑和导轨。

双CCD配置结合软件用于细调校准。

准确、高效的M2等参数测量：

在校准调节后，M2的测量速率高达5Hz 。

测控精度±3%（@M2=1.1） 。